[發明專利]測量脈沖串的時基誤差參數的電路以及光盤記錄裝置

有效

• 申請號: 01123859.3
• 申請日: 2001-08-07
• 公開（公告）號: CN1340809A
• 公開（公告）日: 2002-03-20
• 發明（設計）人: 森島守人
• 申請（專利權）人: 雅馬哈株式會社
• 主分類號: G11B7/00
• 分類號: G11B7/00;G11B7/125;H03L7/06
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司
• 代理人: 朱海波

1.一種測量脈沖串的時基誤差的參數的測量電路，該測量電路包括：

包含相位比較器和變頻振蕩器的鎖相環，其中該相位比較器根據變頻振蕩器的振蕩輸出比較所輸入脈沖串與一個時鐘信號的相位，以輸出一個相位誤差信號，并且該變頻振蕩器的一個振蕩頻率被根據該相位誤差信號而被可變地控制，以使得該時鐘信號與該脈沖串同步；

一個絕對值電路，其確定從相位比較器連續輸出的相位誤差的絕對值；以及

一個平均值電路，其確定被連續確定的相位誤差的絕對值的平均值，或者確定對應于該平均值的一個數值，

其中由該平均值電路所確定的數值被作為該脈沖串的一個時基誤差的參數的測量值而輸出。

2.根據權利要求1所述的測量電路，其特征在于該平均值電路確定在脈沖串的所有邊沿的相位誤差的絕對值的平均值，或者確定對應于該平均值的一個數值。

3.根據權利要求1所述的測量電路，其特征在于該平均值電路包括一個累加器，其連續地累加該相位誤差的絕對值，并且確定在預定時間段內的一個累加數值，作為對應于該相位誤差的絕對值的平均值的數值。

4.根據權利要求2所述的測量電路，其特征在于該平均值電路包括一個累加器，其連續地累加該相位誤差的絕對值，并且確定在預定時間段內的一個累加數值，作為對應于該相位誤差的絕對值的平均值的數值。

5.一種光盤記錄裝置，其中包括：

一個測量脈沖串的時基誤差的參數的測量電路，該測量電路包括：

包含相位比較器和變頻振蕩器的鎖相環，其中該相位比較器根據變頻振蕩器的振蕩輸出比較所輸入脈沖串與一個時鐘信號的相位，以輸出一個相位誤差信號，并且該變頻振蕩器的一個振蕩頻率被根據該相位誤差信號而被可變地控制，以使得該時鐘信號與該脈沖串同步；

一個絕對值電路，其確定從相位比較器連續輸出的相位誤差的絕對值；以及

一個平均值電路，其確定被連續確定的相位誤差的絕對值的平均值，或者確定對應于該平均值的一個數值，

其中由該平均值電路所確定的數值被作為該脈沖串的一個時基誤差的參數的測量值而輸出；

一個射束功率調節電路，其調節激光束的記錄射束功率；以及一個控制電路，其在光盤記錄之前進行控制，使得在連續改變激光束的記錄射束功率的同時對一個光盤進行測試記錄，在測試記錄之后，該測試記錄被再現，由該測量電路測量再現脈沖串的時基誤差的參數值，根據該測量值確定在實際記錄過程中激光束的記錄射束功率的適當數值，并且激光束的記錄射束功率被設置為適當的數值，以便于進行實際記錄。

6.根據權利要求5所述的光盤記錄裝置，其特征在于進一步包括：

一個脈沖串再現電路，其從記錄激光束的返回光接收信號再現一個對應于記錄激光束驅動信號的脈沖串，

其中，在實際記錄過程中，控制電路進行控制，使得由脈沖串再現電路所再現的脈沖串的時基誤差的參數數值被該測量電路所測量，并且激光束的記錄射束功率被根據該測量值連續實時地糾正為一個適當的數值。

7.根據權利要求5所述的光盤記錄裝置，其特征在于該平均值電路確定在脈沖串的所有邊沿的相位誤差的絕對值的平均值，或者確定對應于該平均值的一個數值。

8.根據權利要求5所述的光盤記錄裝置，其特征在于該平均值電路包括一個累加器，其連續地累加該相位誤差的絕對值，并且確定在預定時間段內的一個累加數值，作為對應于該相位誤差的絕對值的平均值的數值。

9.根據權利要求7所述的光盤記錄裝置，其特征在于該平均值電路包括一個累加器，其連續地累加該相位誤差的絕對值，并且確定在預定時間段內的一個累加數值，作為對應于該相位誤差的絕對值的平均值的數值。

10.一個測量脈沖串的時基誤差參數的測量電路，該測量電路包括：

包含相位比較器和變頻振蕩器的鎖相環，其中該相位比較器根據變頻振蕩器的振蕩輸出比較所輸入脈沖串與一個時鐘信號的相位，以輸出一個相位誤差信號，并且該變頻振蕩器的一個振蕩頻率被根據該相位誤差信號而被可變地控制，以使得該時鐘信號與該脈沖串同步；以及

一個平均值電路，其確定被連續從相位比較器輸出的相位誤差的平均值，或者確定對應于該平均值的一個數值，

其中由該平均值電路所確定的數值被作為該脈沖串的一個時基誤差的參數的測量值而輸出。