[發明專利]活動圖像工程組程序時鐘基準抖動、頻率偏移及漂移率測量

有效

• 申請號: 01123060.6
• 申請日: 2001-07-19
• 公開（公告）號: CN1340971A
• 公開（公告）日: 2002-03-20
• 發明（設計）人: D·G·貝克
• 申請（專利權）人: 特克特朗尼克公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00;H04N7/24;H04N7/64;H04L7/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 吳增勇,張志醒

1.一種用于以可選、恒定的測量帶寬基于非均勻PCR到達時間和可變PCR速率來測量程序時鐘基準(PCR)抖動、頻率偏移和漂移率的方法，所述方法包括下列步驟：

利用異步精密基準振蕩器測量PCR到達時間之間的間隔；

獨立于所述可變PCR速率，確定所述可選、恒定的測量帶寬，所述確定的可選、恒定測量帶寬在抖動和游走之間劃出一個頻率范圍；以及

以一組差分方程式的形式、計算作為所述PCR到達時間之間的間隔、各個PCR到達時間處的所述PCR值和所述確定的可選恒定測量帶寬的函數的所述PCR抖動、頻率偏移和漂移率。

2.權利要求1中所述的方法，其特征在于所述差分方程組是從數字模擬混合鎖相環(PLL)模型推導出的，其中所述抖動、頻率偏移和漂移率是從所述PLL的所述反饋控制系統中不同點提取的。

3.權利要求1中所述的方法，其特征在于所述差分方程組是從對所述PCR值的最小均方(LMS)頻率偏移和簡單二階時間方程式的LMS漂移率估算子的線性濾波逼近推導出的。