[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件及其制造方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 01121255.1 | 申請(qǐng)日: | 2001-04-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN1322012A | 公開(公告)日: | 2001-11-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 山內(nèi)博史;佐藤雅幸 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 夏普公司 |
| 主分類號(hào): | H01L23/52 | 分類號(hào): | H01L23/52;H01L21/768 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 張志醒 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體器件 及其 制造 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體器件,包括:在半導(dǎo)體襯底上依次形成的第一絕緣膜、布線層和第二絕緣膜,第二絕緣膜配置有到達(dá)布線層的一個(gè)或多個(gè)通孔,其中布線層在除了形成通孔的區(qū)域之外的區(qū)域通過第一絕緣膜和第二絕緣膜電絕緣,到達(dá)布線層的通孔的總底面積與布線層的頂表面積之比為1∶300-10000。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的半導(dǎo)體器件,其中通孔的高寬比為4或更小。
3.根據(jù)權(quán)利要求1的半導(dǎo)體器件,其中每個(gè)通孔的底面積是0.1-1.0μm2。
4.根據(jù)權(quán)利要求1的半導(dǎo)體器件,其中布線層是電容器的上電極、非易失晶體管的虛設(shè)電極或浮置柵極。
5.根據(jù)權(quán)利要求1的半導(dǎo)體器件,其中在第二絕緣膜的通孔中形成接觸腳,以便連接布線層,在接觸腳和第二絕緣膜上形成上布線層或上電極,以連接接觸腳。
6.根據(jù)權(quán)利要求1的半導(dǎo)體器件,還包括與布線層同時(shí)形成的導(dǎo)電層,其中布線層與導(dǎo)電層電絕緣。
7.根據(jù)權(quán)利要求1的半導(dǎo)體器件,還包括先于布線層形成的導(dǎo)電層,其中布線層與導(dǎo)電層電絕緣。
8.一種半導(dǎo)體器件的制造方法,包括:
在半導(dǎo)體襯底上形成第一絕緣膜;
在第一絕緣膜上形成電浮置的布線層;
在布線層上形成第二絕緣膜;和
在第二絕緣膜中形成到達(dá)布線層的一個(gè)或多個(gè)通孔,使通孔的總底面積與布線層的頂表面積之比為1∶300-10000。
9.根據(jù)權(quán)利要求8的方法,其中確定每個(gè)通孔的底面積或第二絕緣膜的厚度,使通孔的高寬比為4或更小。
10.根據(jù)權(quán)利要求8的方法,其中使形成的每個(gè)通孔的底面積為0.1-1.0μm2。
11.根據(jù)權(quán)利要求8的方法,其中在布線層與第二絕緣膜的蝕刻比大于1的情況下,通過干蝕在第二絕緣膜中形成通孔。
12.根據(jù)權(quán)利要求11的方法,其中利用C2F6、C4F8和Ar氣體作為蝕刻劑,通過感應(yīng)耦合等離子蝕刻法進(jìn)行干蝕。
13.根據(jù)權(quán)利要求11的方法,其中利用C4F8、CO、Ar和O2氣體作為蝕刻劑,通過磁場(chǎng)激勵(lì)反應(yīng)離子蝕刻法進(jìn)行干蝕。
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