[發明專利]光學元件,光學頭和信號重放方法無效
| 申請號: | 01119641.6 | 申請日: | 2001-04-14 |
| 公開(公告)號: | CN1336651A | 公開(公告)日: | 2002-02-20 |
| 發明(設計)人: | 渡邊健次郎;玉田仁志 | 申請(專利權)人: | 索尼公司 |
| 主分類號: | G11B7/12 | 分類號: | G11B7/12;G11B7/13;G02B13/24 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 張志醒 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 元件 信號 重放 方法 | ||
1、一種光學元件具有埋入透鏡表面基本上與之垂直的導電元件,其中導電元件的直徑或寬度小于透鏡表面上光斑的直徑。
2、如權利要求1所述的光學元件,其中導電元件埋在透鏡的光軸上且關于光軸對稱,導電元件端點的直徑比透鏡表面上的光斑的直徑小并且面對透鏡表面。
3、如權利要求1所述的光學元件,其中導電元件是線性構造并且穿過光斑埋入透鏡表面中。
4、如權利要求1所述的光學元件,其中所述透鏡是半球面鏡,超固體浸沒式透鏡或者物鏡中的一種。
5、如權利要求1所述的光學元件,其中導電元件由具有與透鏡材料不同折射率的金屬、類金屬和透明導電材料制成。
6、如權利要求1所述的光學元件,其中導電元件上設有由之提供電流的電極。
7、一種在其滑動器上設有光學元件的光學頭,通過用讀取光束照射光學記錄介質來讀取信號,其中
所述光學元件具有埋入透鏡表面基本上與之垂直的導電元件,其中該導電元件的直徑或寬度小于透鏡表面光斑的直徑。
8、如權利要求7所述的光學頭,其中光學元件是半球面鏡、超SIL或者物鏡中的一種。
9、如權利要求7所述的光學頭,其中光學元件與滑動器制成一體。
10、如權利要求7所述的光學頭,其中設有檢測信號光學元件和參考光學元件,并且所述導電元件埋入在檢測信號光學元件中。
11、如權利要求7所述的光學頭,其中設有電極用于為導電元件提供電流。
12、一種信號重放方法,包括如下步驟:
分離來自相同光源的激光束,將其入射到光學元件上以在光學元件的焦平面上形成兩個光斑;
在其中的一個光斑的相應位置處設置導電元件,其直徑或寬度比光斑的直徑小;并且
拾取入射在導電元件上的光斑作為檢測光束同時拾取另一光斑作為參考光束,并且在從光記錄介質返回光束的干涉效應下讀取信號。
13、一種信號重放方法,包括如下步驟:
用激光照射光學元件,在由激光產生的光斑位置處設置導電元件,以及給導電元件提供高頻電流;并且
通過拾取與該高頻同步的信號并讀取記錄在光記錄介質上的信號來檢測光記錄介質上的導電材料和導電元件之間的相互作用。
14、如權利要求13所述的信號重放方法,其中激光束偏轉表面的方向和電流的方向基本上相互垂直,或者基本上相互平行。
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