[發明專利]測量鏡片成像質量的裝置和方法

有效

• 申請號: 01118574.0
• 申請日: 2001-06-01
• 公開（公告）號: CN1389716A
• 公開（公告）日: 2003-01-08
• 發明（設計）人: 黃國亮;程京;周玉祥;馮繼宏;吳浩揚;劉誠迅
• 申請（專利權）人: 清華大學;北京博奧生物芯片有限責任公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司
• 代理人: 蹇煒

1、一種測量鏡片成像質量的裝置，包括：

一個激光源，用于產生激光束并射向鏡片；

一個光敏探測裝置，用于將所接收的光信號轉換為電信號；

一個顯微物鏡，用于將激光束經所測鏡片聚焦后的焦斑成像在該光敏探測裝置上；

一臺計算機，用于對光敏探測裝置輸出的有關聚焦焦斑成像的信號進行處理，并通過分析該信號而檢測出鏡片的成像質量；

其中，光敏檢測裝置與計算機連接，激光源、被測鏡片、光敏檢測裝置和顯微物鏡設置在一個光路上，顯微物鏡設置在光敏檢測裝置與被測鏡片之間。

2、根據權利要求1所述的裝置，其中，在被測鏡片與顯微物鏡之間設有一個標尺刻畫板，該標尺刻畫板為采用透明材料制成的平板并畫有標尺刻畫線，該標尺刻畫板上的標尺刻畫線所在平面與被測鏡片的焦平面重合。

3、根據權利要求1或2所述的裝置，其中，在激光源與被測鏡片之間設置一個光強衰減器，用于衰減激光束以達到合適的強度。

4、根據權利要求1或2所述的裝置，其中，在顯微物鏡與光敏探測裝置之間設置一個可調整的轉接件，其長度可調整，用于使激光束聚焦后的焦斑清晰地成像在光敏探測裝置上。

5、根據權利要求1所述的裝置，其中，該光敏檢測裝置由電荷耦合器件組成。

6、根據權利要求1或2所述的裝置，其中，在標尺刻畫板附近設有用于照亮標尺刻畫線的照明光源。

7、一種測量鏡片成像質量的方法，包括以下步驟：

(1)以具有適當光強的激光束照射在被測鏡片上；

(2)由一個光敏檢測裝置檢測經被測鏡片聚焦后的焦斑成像，將與該焦斑相關的光信號轉換為電信號，并送至一臺計算機；

(3)由該計算機對該信號進行處理及分析，檢測出鏡片的成像質量。

8、根據權利要求7所述的方法，其中，在經被測鏡片聚焦后的焦斑成像上疊加標尺刻畫線。

9、根據權利要求7或8所述的方法，其中，采用一個顯微物鏡將所述激光束聚焦后的焦斑及標尺刻畫線放大并清晰成像在光敏探測裝置上。

10、根據權利要求7所述的方法，其中，調整經被測鏡頭的激光束的強度，使得光敏檢測裝置中的光敏器件象元所接收的光強是不飽和的。