[發(fā)明專利]具有卡匣式光路系統(tǒng)的多化合物氣體分析儀

無效

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• 申請日: 2001-04-30
• 公開（公告）號: CN1384350A
• 公開（公告）日: 2002-12-11
• 發(fā)明（設計）人: 張世易
• 申請（專利權(quán)）人: 眾智光電科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/35
• 分類號: G01N21/35
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所
• 代理人: 魏曉剛

1.一種具有卡匣式光路系統(tǒng)的多化合物氣體分析儀，含有至少一個卡匣，每一該卡匣包括：

一光源系統(tǒng)，包含一紅外線光源和一用來提供輸入紅外線平行光束的聚光拋物面鏡；

一光路系統(tǒng)，包含一卡匣外殼、一光學吸收腔和一組反射凹面鏡，該卡匣外殼包含一第一面、一第二面、一第一側(cè)、一第二側(cè)、一第三側(cè)、和一第四側(cè)，其中該卡匣外殼各設置有一含多個氣孔的氣孔組，交錯相對配置于該第一面和第二面上，且每一氣孔組四周為一O型環(huán)所包圍以做為層層疊積的卡匣間密封氣體之用，該等氣孔組用來均勻分布地通入的待測氣體化合物，又其中該第一側(cè)具有一第一段和一第二段，而該第一側(cè)的該第一段處設置有輸入紅外線的進口、且在該第一側(cè)的該第二段處設置有輸出紅外線的出口，而該光學吸收腔是用來導引待量測的氣體化合物且提供氣體化合物與紅外線接觸且延長光路的空間，且在該第一側(cè)、第二側(cè)、第三側(cè)、和第四側(cè)的外側(cè)各設置若干鎖緊用的螺絲轂，而該光學吸收腔的內(nèi)壁均涂上高反射性鍍膜，又該組反射凹面鏡包含一第一凹面鏡，一第二凹面鏡，和一第三凹面鏡，交錯相對配置于該光學吸收腔的第一側(cè)和第二側(cè)，用來做紅外線的導引、延長光路以及提供輸出紅外線的平行光束；

一光學折疊系統(tǒng)，包含一分束鏡和一用來導引紅外線至下一卡匣的偏向器，其中該分束鏡和該偏向器的光路經(jīng)過的表面均涂上高反射性鍍膜；以及

一紅外線檢測系統(tǒng)，是為一雙波段檢測器，包含一參考檢測器和一實測檢測器，其中每一該檢測器含有一濾光片和一傳感器，而該參考檢測器內(nèi)的濾光片與該實測檢測器內(nèi)的濾光片分別感應頻率接近但不同頻率的紅外線，故兩者為不同的濾光片，但該參考檢測器內(nèi)的該傳感器與該實測檢測器內(nèi)的該傳感器則完全相同。

2.如權(quán)利要求1所述的具有卡匣式光路系統(tǒng)的多化合物氣體分析儀，其中該分束鏡為一半中空型的分束鏡，其鏡面有一部分為中空部而另一部分為反射面鏡，而該分束鏡的分光比例是按照該中空部的面積與反射面鏡的面積的比例而定。

3.如權(quán)利要求1所述的具有卡匣式光路系統(tǒng)的多化合物氣體分析儀，其中該每一卡匣的光路長度均相同且為一定值，而用來量測每一氣體化合物的分析儀是根據(jù)該氣體所需匹配的光路長度來決定氣體分析儀所需組合卡匣的數(shù)目。

4.如權(quán)利要求3所述的具有卡匣式光路系統(tǒng)的多化合物氣體分析儀僅含一卡匣，故成為一“具有卡匣式光路系統(tǒng)的單一氣體分析儀”用來量測一單一氣體，而該卡匣的大小是根據(jù)該氣體所需匹配的光路長度來決定。

5.如權(quán)利要求1所述的具有卡匣式光路系統(tǒng)的多化合物氣體分析儀或權(quán)利要求4所述的具有卡匣式光路系統(tǒng)的單一氣體分析儀，其中該高反射性鍍膜的材料為由金、銀、和鋁所構(gòu)成族群中的一種。

6.如權(quán)利要求1所述的具有卡匣式光路系統(tǒng)的多化合物氣體分析儀，其中該分束鏡的材料為鋅化硒(ZnSe)玻璃。

7.如權(quán)利要求1所述的具有卡匣式光路系統(tǒng)的多化合物氣體分析儀，其中該分束鏡和該偏向器的材料為由ABS樹脂或PC樹脂所構(gòu)成的族群中的一種。

8.如權(quán)利要求1所述的具有卡匣式光路系統(tǒng)的多化合物氣體分析儀或權(quán)利要求4所述的具有卡匣式光路系統(tǒng)的單一氣體分析儀，其中該氣孔組的配置是為可避免妨礙光路的任何位置。