[發明專利]檢驗盤缺陷管理區信息的方法及執行該方法的測試設備

無效

• 申請號: 01116202.3
• 申請日: 2001-04-06
• 公開（公告）號: CN1320923A
• 公開（公告）日: 2001-11-07
• 發明（設計）人: 高禎完;鄭鉉權
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G11B20/18
• 分類號: G11B20/18;G11B20/12;G11B7/00
• 代理公司: 柳沈知識產權律師事務所
• 代理人: 馬瑩

1、一種用于檢驗在具有缺陷管理區域(DMA)信息的盤上記錄信息或從該盤再現信息的記錄和再現設備的DMA信息產生或更新功能的方法，該方法包括下列步驟：

采用具有測試基準信息的測試盤，擴展記錄和再現設備中測試盤的輔助備用區，并從測試盤中產生測試信息；和

將從測試基準信息中得到的基準信息與測試信息相比較，以提供對測試信息的檢驗結果。

2、如權利要求1所述的方法，其中所述測試基準信息是鏡像文件。

3、如權利要求2所述的方法，其中，所述測試基準信息具有被設置成表示次備用區為滿的值的備用區滿標記。

4、如權利要求3所述的方法，其中所述測試信息是鏡像文件。

5、如權利要求3所述的方法，其中所述測試信息是直接從測試盤上的DMA讀取的。

6、如權利要求5所述的方法，其中所述比較步驟包括：

檢驗所述測試信息中DMA的結構；

檢驗所述測試信息的盤定義結構(DDS)；

檢驗所述測試信息的主缺陷列表(PDL)結構；和

檢驗所述測試信息的次缺陷列表(SDL)結構。

7、如權利要求6所述的方法，其中檢驗DMA結構的步驟包括：

檢查4個DMA，即寫入測試盤4個位置的DMA中的任意一個中是否存在差錯，其中的兩個位于測試盤導入區，而另兩個位于導出區；

檢查4個DDS中和4個SDL中的DDS/PDL更新計數器的值是否為“先前值”，表示DDS/PDL更新計數器在擴展輔助備用區之前和之后的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否為“1”，并且DDS/PDL更新計數器的值是否相同；

檢查4個SDL中SDL更新計數器的值是否為“先前值”，表示SDL更新計數器在擴展輔助備用區之前和之后的差值的SDL更新計數器增量是否為“1”，并且SDL更新計數器的值是否相同；和

檢查4個DMA的內容是否相同。

8、如權利要求6所述的方法，其中檢驗DDS的步驟包括：

檢查DDS標識符是否為預定值；

檢查盤認證標記中表示在進程中的比特的值是否為“0b”，并且表示盤制造商認證的比特的值和表示用戶認證的比特的值是否為“1b”；

檢查DDS/PDL更新計數器的值是否為“先前值”，表示DDS/PDL更新計數器在擴展輔助備用區之前和之后的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否為“1”；

檢查組數是否為預定值；

檢查區域數是否為預定值；

分別檢查主備用區的第一和最后扇區號是否為預定的扇區號；

檢查是否根據PDL中登記的缺陷數來確定第一邏輯扇區號的位置；和

檢查是否根據PDL中登記的缺陷數來確定每個區域的開始邏輯扇區號。

9、如權利要求6所述的方法，其中檢驗PDL結構的步驟包括：

檢查PDL標識符是否為預定值；

檢查PDL中的項目數是否與測試基準信息的PDL中登記的缺陷數相同；和

檢查PDL項目的完整性中所包括的缺陷列表是否與測試基準信息中的相同。

10、如權利要求6所述的方法，其中檢驗SDL結構的步驟包括：

檢查SDL標識符是否為預定值；

檢查SDL更新計數器的值是否為“先前值”，表示SDL更新計數器在擴展輔助備用區之前和之后的差值的SDL更新計數器增量是否為“1”；

檢查DDS/PDL更新計數器的值是否為“先前值”，表示DDS/PDL更新計數器在擴展輔助備用區之前和之后的差值的DDS/PDL更新計數器增量是否為“1”；

檢查是否根據由用戶指定的次備用區(SSA)的尺寸適當地設置了SSA的開始扇區號和邏輯扇區的總數；和

檢查備用區滿標記是否表示SSA為不滿。

11、如權利要求1所述的方法，還包括將測試基準信息記錄到空白盤上，以產生測試盤。

12、如權利要求11所述的方法，其中所述測試基準信息記錄到空白盤上，而不管空白盤的物理條件如何。