[發(fā)明專利]傾斜檢測(cè)方法和傾斜檢測(cè)器無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 01112464.4 | 申請(qǐng)日： | 2001-03-30 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN1155954C | 公開(kāi)（公告）日： | 2004-06-30 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 田川幸宏 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 三星電機(jī)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào)： | G11B7/095 | 分類號(hào)： | G11B7/095;G11B7/09 |
| 代理公司： | 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人： | 謝麗娜;谷慧敏 |
| 地址： | 韓國(guó)*** | 國(guó)省代碼： | 韓國(guó);KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 傾斜 檢測(cè) 方法 檢測(cè)器 | ||
【權(quán)利要求書】：
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G11 信息存儲(chǔ)
G11B 基于記錄載體和換能器之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)而實(shí)現(xiàn)的信息存儲(chǔ)
G11B7-00 用光學(xué)方法，例如，用光輻射的熱射束記錄用低功率光束重現(xiàn)的；為此所用的記錄載體
G11B7-002 .按載體形狀區(qū)分的記錄、重現(xiàn)或抹除系統(tǒng)
G11B7-004 .記錄、重現(xiàn)或抹除方法；為此所用的讀、寫或抹除電路
G11B7-007 .記錄載體上信息的排列，例如，軌跡的形式
G11B7-08 .傳感頭或光源相對(duì)于記錄載體的配置或安裝
G11B7-12 .換能頭，例如光束點(diǎn)的形成或光束的調(diào)制
G11B 基于記錄載體和換能器之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)而實(shí)現(xiàn)的信息存儲(chǔ)
G11B7-00 用光學(xué)方法，例如，用光輻射的熱射束記錄用低功率光束重現(xiàn)的；為此所用的記錄載體
G11B7-002 .按載體形狀區(qū)分的記錄、重現(xiàn)或抹除系統(tǒng)
G11B7-004 .記錄、重現(xiàn)或抹除方法；為此所用的讀、寫或抹除電路
G11B7-007 .記錄載體上信息的排列，例如，軌跡的形式
G11B7-08 .傳感頭或光源相對(duì)于記錄載體的配置或安裝
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- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
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