[發(fā)明專利]盤盒裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 01111972.1
• 申請日: 2001-02-02
• 公開（公告）號: CN1318838A
• 公開（公告）日: 2001-10-24
• 發(fā)明（設計）人: 真田洋太郎;楠井嘉雄;根津直大
• 申請（專利權）人: 索尼株式會社
• 主分類號: G11B23/03
• 分類號: G11B23/03;G11B19/12
• 代理公司: 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 張兆東

本發(fā)明涉及盤盒裝置，其能夠通過例如將激光束輻射到光盤的信號記錄層上來在信號記錄層上記錄信息信號或者從信號記錄層上再現(xiàn)信息信號。具體地說，本發(fā)明涉及所謂兼容型的盤盒裝置，其中具有不同大小和厚度之盒殼的多個盤盒，其用于在其中存放具有不同直徑之盤片，被有選擇地裝載在記錄和再現(xiàn)裝置上，并且其中當不同大小和厚度的盤盒被裝載在記錄和再現(xiàn)裝置上時，不同大小盤盒之對應開關檢測表面的高度與記錄和再現(xiàn)裝置的檢測開關對準。

能夠通過光束從記錄媒體上再現(xiàn)信息或者在記錄媒體上記錄信息的光盤迄今一直被用作為用于諸如音頻信息或視頻信息之各種信息的記錄媒體。這種光盤能夠由單平板狀盤形成并因此容易處理。而且，由于與諸如磁帶的其它記錄媒體相比其具有大的記錄容量，因此其廣泛地用作為用于音頻信息、視頻信息和由計算機處理之數(shù)據(jù)的記錄媒體。

對使用諸如光盤的光記錄媒體的記錄和/或再現(xiàn)裝置更為小型化的要求正在增長，因為其中將記錄和/或再現(xiàn)裝置安裝入諸如計算機之信息處理裝置中的空間應當變得更小。

為了小型化記錄和/或再現(xiàn)裝置，記錄媒體也應當小型化，并且高存儲容量記錄媒體的要求也正在增加。為此，已經(jīng)提出了多種盤盒其具有不同大小和不同厚度的盒殼，用于在其中存放具有不同直徑的用作記錄媒體的盤本申請的委托人以前以日本專利申請No.11-176029提出了這些盤盒。

通常盤盒具有誤擦除保護檢測孔和盤識別檢測孔。這些檢測孔一般是通過將模式檢測開關的檢測銷壓到驅動裝置側來識別的。但是，模式檢測開關檢測銷的高度公差落在大約0.1mm的范圍內，并且檢測銷的精度與周圍零件相比是低的。因此很可能這些檢測孔將被錯誤地識別。

當上述大小和厚度為不同的盤盒能夠被裝載到和由單驅動裝置驅動時，如果盤盒的誤擦除保護檢測孔的檢測高度是不同的，則存在的危險是檢測孔將通過模式檢測開關被更為頻繁地錯誤識別。在諸如MD(速你盤)和MO(磁光盤)的軟盤或盤盒中，例如，在假定不同大小和不同厚度的盤盒是通過單驅動裝置驅動的情況下，沒有辦法避免上述危險。

本發(fā)明的目的是為了解決上述問題并打算提供一種盤盒裝置，其中，當大小和厚度不同的多個盤盒被裝載到驅動裝置上時，盤盒的對應開關檢測平面能夠做成與驅動裝置的模式檢測開關齊平。

為了實現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的盤盒裝置包括具有在大小和厚度上是不同的用于在其中存放具有不同直徑的盤盒殼的多個盤盒，具有開關檢測表面的用于識別定義在大小和厚度不同之每個盤盒的一個表面上的盤盒模式的多個檢測孔，以及包括記錄和再現(xiàn)部分用于選擇地在其上裝載大小和厚度不同的多個盤盒和記錄和/或再現(xiàn)具有不同直徑盤之盤片的記錄和再現(xiàn)裝置，記錄和再現(xiàn)裝置包括：用于通過檢測不同大小和厚度之所述盤盒的多個檢測孔來識別盤盒模式的檢測開關，以及用于相對記錄和再現(xiàn)裝置來適當?shù)卮_定不同大小和厚度之盤盒的位置和高度的位置基準部分，其中，當所述多個不同大小和厚度的盤盒被裝載在記錄和再現(xiàn)裝置上時，對于該檢測開關，具有大直徑的盤盒之檢測開關表面的高度和具有小直徑的盤盒之檢測開關表面的高度相互對準。

根據(jù)上述盤盒裝置，即使當不同大小和厚度的盤盒之對應開關檢測表面在高度上是不同時，盤盒被裝載在記錄和再現(xiàn)裝置上并且具有由位置基準部分確定的位置，結果盤盒的對應開關檢測表面能夠與該檢測開關對準。因此，在不改變檢測開關之高度的情況下，有可能避免不同大小和厚度的盤盒之檢測孔被錯誤地識別。

圖1是表示根據(jù)本發(fā)明之大盤盒的頂視透視圖；

圖2是表示相同的大盤盒的底視透視圖；

圖3是表示根據(jù)本發(fā)明之小盤盒的頂視透視圖；

圖4是表示根據(jù)本發(fā)明之相同的小盤盒的底視透視圖；

圖5是表示其中大盤盒被裝載到盒室中之狀態(tài)的頂視圖；

圖6是表示其中大盤盒被裝載到盒室中之相同狀態(tài)的橫剖視圖；

圖7是表示其中小盤盒被裝載到小盒室中之狀態(tài)的頂視圖；

圖8是表示其中小盤盒被裝載到小盒室中之相同狀態(tài)的橫剖視圖；

圖9是一個側視圖，參照該圖用于解釋當大盤盒被裝載到盒室中時有效的誤擦除保護檢測操作；和

圖10是一個側視圖，參照該圖用于解釋當小盤盒被裝載到盒室中時有效的誤擦除保護檢測操作。

下面參考附圖解釋根據(jù)本發(fā)明實施例的盤盒裝置，在這種情況下，本發(fā)明適用于具有大直徑和小直徑的兩種盤盒。