[發(fā)明專利]光盤頭、激光二極管模塊和光學(xué)錄/放裝置

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 01111204.2
• 申請(qǐng)日: 2001-03-07
• 公開（公告）號(hào): CN1317786A
• 公開（公告）日: 2001-10-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 澀谷義一
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: TDK株式會(huì)社
• 主分類號(hào): G11B7/09
• 分類號(hào): G11B7/09;G11B7/12;G11B7/135
• 代理公司: 中國(guó)專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 吳增勇,傅康

本發(fā)明涉及光學(xué)錄/放裝置以及用于光學(xué)錄/放裝置的光盤頭和激光二極管(LD)模塊。

在目前市場(chǎng)上可以買到各種光盤的情況下，光學(xué)錄/放裝置和光盤頭實(shí)現(xiàn)對(duì)符合多種規(guī)范的光盤的穩(wěn)定的跟蹤。用于這情況的方法大概分為：方法(1)，使用RF信號(hào)產(chǎn)生跟蹤信號(hào)(下文稱為TE信號(hào))，如相位差檢測(cè)法和外差法；方法(2)，將主光束分裂成用于光盤上TE信號(hào)的旁束，如3光束法和差動(dòng)推挽法；方法(3)，只使用主光束而不使用RF信號(hào)，如推挽法。如圖4C所示，推挽法按紋跡方向51的分割線和徑向的分割線將接收主光束光點(diǎn)反射光的光檢測(cè)元件構(gòu)成的檢測(cè)器51分割成四個(gè)元件。推挽法借助圖4D所示的運(yùn)算電路42從每個(gè)光檢測(cè)裝置的輸出中獲得跟蹤信號(hào)TE=(A+D)-(B+C)，并使用該TE來進(jìn)行跟蹤控制，因?yàn)楫?dāng)光點(diǎn)位于紋跡(凹坑)的中央時(shí)，TE=0，而當(dāng)光點(diǎn)向右或向左偏時(shí)，TE＞0或TE＜0。

在這些方法中，方法(1)不能用于需要對(duì)未記錄區(qū)域進(jìn)行跟蹤伺服的媒體，如CD-R和DVD-R。方法(2)有一個(gè)缺點(diǎn)，紋跡間距不能同時(shí)支持多個(gè)光盤，因?yàn)樾枰獙闹鞴馐至训淖庸馐磶孜⒚椎木认蚋櫡较驅(qū)?zhǔn)，且該間隔的優(yōu)化值取決于光盤的紋跡間距。另一方面，方法(3)推挽法具有如下優(yōu)點(diǎn)：第一，該方法不受是否存在RF信號(hào)的影響；第二，它不需要精確的角度調(diào)整和對(duì)光盤中央位置的高精確度的定位；第三，不存在對(duì)不同光盤紋跡間距的限制。因此，自從光盤進(jìn)入商業(yè)應(yīng)用后，推挽法就得以廣泛運(yùn)用。

用于獲得根據(jù)相關(guān)技術(shù)的光盤頭的聚焦誤差信號(hào)的系統(tǒng)包括刃形系統(tǒng)、傅科系統(tǒng)、光束尺寸系統(tǒng)和像散系統(tǒng)。對(duì)于獨(dú)立安裝光源和光檢測(cè)元件的光盤頭，通常使用所述刃形系統(tǒng)和像散系統(tǒng)。另一方面，把光源和光檢測(cè)元件安裝在同一封裝中的LD模塊，通常使用全息傅科系統(tǒng)和光束尺寸系統(tǒng)。

在推挽法中，由光檢測(cè)元件構(gòu)成的檢測(cè)器51中的光點(diǎn)50的位置和強(qiáng)度可以根據(jù)如下情況而有所不同：物鏡由跟蹤線圈來驅(qū)動(dòng)并相對(duì)于另一種光學(xué)系統(tǒng)在光盤的徑向移動(dòng)；或者，光盤離開光軸而傾斜。這在所產(chǎn)生TE信號(hào)中產(chǎn)生直流偏移信號(hào)(跟蹤錯(cuò)誤)。這種信號(hào)變化稱為直流偏移。

當(dāng)所包含的直流偏移分量作用于跟蹤伺服時(shí)，跟蹤性能就會(huì)顯著下降，產(chǎn)生可能的跟蹤中止錯(cuò)誤。因此，一般使用推挽法時(shí)，會(huì)附加消除直流偏移的方法。

作為根據(jù)相關(guān)技術(shù)的消除直流偏移的方法，一種已知的方法是，預(yù)先估算伴隨光盤離心率的直流偏移，然后進(jìn)行適當(dāng)傾斜操作后，在執(zhí)行跟蹤伺服中校正偏移量。已知根據(jù)相關(guān)技術(shù)的另一種方法，其中提高光盤頭在螺線方向上跟蹤性能以將鏡頭位移最小化。已知根據(jù)相關(guān)技術(shù)的再一種方法，其中在光盤中設(shè)置反射鏡區(qū)，并且在應(yīng)用跟蹤伺服的同時(shí)校正反射鏡區(qū)的所述偏移。

這些方法都需要復(fù)雜的信號(hào)處理、具有良好響應(yīng)特性的機(jī)構(gòu)部分、或者具有特別格式的光盤。配置較為簡(jiǎn)單且基本不受偏移影響的方法(1)和(2)在實(shí)際應(yīng)用中更為常見。

另一方面，在根據(jù)相關(guān)技術(shù)的聚焦誤差信號(hào)中，重疊信號(hào)(當(dāng)在光盤偏心的情況下光束光點(diǎn)橫跨紋跡時(shí)產(chǎn)生)(所謂紋跡側(cè)向信號(hào))以干擾聚焦伺服的干擾信號(hào)的形式出現(xiàn)。雖然紋跡側(cè)向信號(hào)的重疊在像散系統(tǒng)中是主要問題，但是在其它系統(tǒng)中也不能夠完全避免。傳統(tǒng)上，為了減小紋跡側(cè)向信號(hào)的重疊，使用用于將子光束的相位作某些移動(dòng)的特殊的衍射光柵，如日本專利公開No.11-296875/(1999)中那樣，或者，將檢測(cè)器分裂成更多的元件并且使用特殊的算術(shù)運(yùn)算處理來消除聚焦誤差信號(hào)中的干擾，如日本專利公開No.2000-82262中那樣。

鑒于相關(guān)技術(shù)中的問題，本發(fā)明目的在于提供配備跟蹤控制裝置的光盤頭，激光二極管模塊及光學(xué)錄/放裝置，這種跟蹤控制裝置不需要復(fù)雜的信號(hào)處理或位置調(diào)整，而且可以通過簡(jiǎn)單的配置很容易地消除偏移。

根據(jù)本發(fā)明的第一個(gè)方面是配備在光學(xué)錄/放裝置中的光盤頭，所述光盤頭通過衍射元件把從光源射出的單一激光束分裂成多個(gè)子光束，并把這些子光束發(fā)射到光盤上，從而，使用子光束進(jìn)行跟蹤控制，其特征在于磁盤上成像的子光束的光點(diǎn)直徑被設(shè)定為主光束的直徑的至少2.5倍。