[發(fā)明專利]半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)壓縮

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 01110512.7
• 申請(qǐng)日: 2001-04-05
• 公開（公告）號(hào): CN1320823A
• 公開（公告）日: 2001-11-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 安東尼·勒;羅基特·拉尤斯曼;詹姆斯·阿蘭·特恩奎斯特;菅森茂
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 株式會(huì)社鼎新
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 永新專利商標(biāo)代理有限公司
• 代理人: 蹇煒

1、一種用于測(cè)試被測(cè)半導(dǎo)體器件(DUT)的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)，包括：

模式存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)模式數(shù)據(jù)，以產(chǎn)生測(cè)試模式，該測(cè)試模式供給DUT，以便測(cè)試DUT；

評(píng)估DUT輸出信號(hào)的裝置，將輸出信號(hào)與所希望的信號(hào)相比較，當(dāng)兩者不匹配時(shí)產(chǎn)生失效數(shù)據(jù)，由此評(píng)估DUT輸出信號(hào)；

數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)由輸出信號(hào)和希望信號(hào)之間的不匹配引起的失效數(shù)據(jù)；和

壓縮裝置，用于在第一次測(cè)試操作中將模式存儲(chǔ)器的多個(gè)地址分配給數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器的一個(gè)地址，以便以預(yù)定的壓縮比將對(duì)模式存儲(chǔ)器的每組多個(gè)地址發(fā)生的失效數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器的相應(yīng)地址中，并用于僅對(duì)在數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器中檢測(cè)到失效數(shù)據(jù)的一組模式存儲(chǔ)器的多個(gè)地址執(zhí)行第二次測(cè)試操作，而沒有模式存儲(chǔ)器和數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器之間的地址壓縮。

2、如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)，其中，模式存儲(chǔ)器和數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器之間的壓縮比由來自模式存儲(chǔ)器的模式數(shù)據(jù)和數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器的地址產(chǎn)生的多個(gè)事件確定。

3、如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)，其中，模式存儲(chǔ)器和數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器之間的壓縮比由來自模式存儲(chǔ)器的模式數(shù)據(jù)和數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器的地址產(chǎn)生的測(cè)試模式的時(shí)間長度確定。

4、如權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)，其中，壓縮裝置包括：

寄存器，用于表示每組測(cè)試模式的多個(gè)事件和數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器地址之間的壓縮比；

失效累計(jì)器，用于累計(jì)在由壓縮比規(guī)定的多個(gè)事件期間產(chǎn)生的失效數(shù)據(jù)；

下計(jì)數(shù)器，用于每當(dāng)收到根據(jù)模式存儲(chǔ)器的模式數(shù)據(jù)產(chǎn)生的事件時(shí)，對(duì)從寄存器收到的規(guī)定數(shù)量的事件進(jìn)行向下計(jì)數(shù)；

數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)控制器，用于產(chǎn)生數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器的地址數(shù)據(jù)，并控制數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器的讀和寫操作；和

事件追蹤器，用于通過向失效累計(jì)器提供失效數(shù)據(jù)，控制在數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)失效數(shù)據(jù)的整個(gè)操作，監(jiān)視下計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)，當(dāng)每次下計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)達(dá)到壓縮比規(guī)定多個(gè)事件時(shí)，引導(dǎo)失效數(shù)據(jù)存儲(chǔ)控制器在數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)來自失效累計(jì)器的失效數(shù)據(jù)。

5、如權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)，其中，失效累計(jì)器由兩個(gè)累計(jì)器構(gòu)成，以交替存儲(chǔ)每組規(guī)定多個(gè)事件的失效數(shù)據(jù)，并且其中，壓縮裝置進(jìn)一步包括多路轉(zhuǎn)換器，用于基于事件追蹤器的選擇信號(hào)來選擇一個(gè)累計(jì)器向數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器發(fā)送失效數(shù)據(jù)。

6、如權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)，其中，壓縮裝置包括：

寄存器，用于表示每組測(cè)試模式的時(shí)間長度和數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器地址之間的壓縮比；

失效累計(jì)器，用于累計(jì)由壓縮比規(guī)定的每組測(cè)試模式的時(shí)間長度期間產(chǎn)生的失效數(shù)據(jù)；

時(shí)間計(jì)數(shù)器，用于根據(jù)所收到的來自寄存器的規(guī)定壓縮比，通過每次對(duì)多個(gè)時(shí)鐘脈沖進(jìn)行計(jì)數(shù)，來檢測(cè)測(cè)試模式的時(shí)間長度；

數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)控制器，用于產(chǎn)生數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器的地址數(shù)據(jù)，并控制數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器的讀和寫操作；和

事件追蹤器，用于通過向失效累計(jì)器提供失效數(shù)據(jù)，控制在數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)失效數(shù)據(jù)的整個(gè)操作，監(jiān)視時(shí)間計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)，每當(dāng)時(shí)間計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)達(dá)到寄存器的壓縮比所規(guī)定的測(cè)試模式時(shí)間長度時(shí)，引導(dǎo)失效數(shù)據(jù)存儲(chǔ)控制器在數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)來自失效累計(jì)器的失效數(shù)據(jù)。

7、如權(quán)利要求6所述的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)，其中，失效累計(jì)器由兩個(gè)累計(jì)器構(gòu)成，以交替存儲(chǔ)每組測(cè)試模式規(guī)定的時(shí)間長度的失效數(shù)據(jù)，并且其中，壓縮裝置進(jìn)一步包括多路轉(zhuǎn)換器，用于基于事件追蹤器的選擇信號(hào)來選擇一個(gè)累計(jì)器向數(shù)據(jù)失效存儲(chǔ)器發(fā)送失效數(shù)據(jù)。