[發明專利]使用雙能量掃描信息的爆炸材料檢測裝置和方法

無效

• 申請號: 01101980.8
• 申請日: 2001-01-18
• 公開（公告）號: CN1319759A
• 公開（公告）日: 2001-10-31
• 發明（設計）人: 戴維·A·謝弗
• 申請（專利權）人: 模擬技術公司
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04;G01N23/083;G01N23/201;G06F15/00
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司
• 代理人: 劉興鵬

1．一種在具有縱向軸線的區域內檢測物體的方法，該物體具有至少第一物理特性和第二物理特性，所述方法包括：

A．掃描所述區域以產生代表所述區域的掃描數據，所述掃描包括：

ⅰ．提供一個能夠至少以第一能級和第二能級交替發射的射線源和一個位于所述區域相反側的檢測器陣列；

ⅱ．至少將所述射線源繞著所述縱向軸線旋轉，同時所述射線源向著所述檢測器陣列發出射線；以及

ⅲ．利用所述檢測器陣列接收來自所述區域的射線，以產生有關所述區域在所述第一能級和所述第二能級的所述掃描數據；

B．確定至少一個圖像數據片段，每個數據片段對應于一個沿所述區域的所述縱向軸線的位置，每個所述圖像數據片段分別確定出多個掃描數據投影，這些掃描數據投影是在掃描步驟中的相應多個視角上獲得的，每個掃描數據投影包括在其相應視角上的掃描數據；

C．從所述圖象數據片段中選擇至少一個與所述視角之一相對應的清晰路徑掃描數據投影，其中所述清晰路徑投影包括至少所述物體，并且選擇第一能級上的第一組掃描數據和第二能級上的第二組掃描數據，每組數據分別對應于所述清晰路徑投影；

D．從所述第一組掃描數據和所述第二組掃描數據產生代表所述第一物理特性的第一值和代表所述第二物理特性的第二值，并且利用所述第一值和所述第二值的函數識別和鑒定所述物體。

2．根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述清晰路徑投影只包括所述物體。

3．根據權利要求1所述的方法，其特征在于，用于產生所述第一值和所述第二值的所述步驟還包括以下步驟：通過計算機系統對所述第一組掃描數據和所述第二組掃描數據進行Alvarez/Macovski算法處理，以產生所述第一值和所述第二值。

4．根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述檢測器陣列也繞著所述縱向軸線旋轉以掃描所述區域。

5．根據權利要求1所述的方法，還包括為所述物體的第二清晰路徑投影選擇第二視角，所述第二清晰路徑投影是由所述掃描步驟中所產生的所述掃描數據產生的。

6．根據權利要求1所述的方法，還包括為所述物體的多個附加清晰路徑投影選擇多個附加視角，所述多個附加清晰路徑投影是由所述掃描步驟中所產生的所述掃描數據產生的。

7．根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述區域被計算機層析攝影(CT)裝置掃描以產生所述掃描數據。

8．根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述射線源是錐形射線源。

9．根據權利要求1所述的方法，其特征在于，選擇至少一個清晰路徑數據投影的步驟還包括以下步驟：確定所述物體沿著所述清晰路徑投影所定義的一根軸線的線性尺寸。

10．根據權利要求9所述的方法，其特征在于，識別所述物體的所述步驟還包括將所述線性尺寸作為所述函數的一個參數。

11．一種在具有縱向軸線的區域內檢測物體的裝置，該物體具有至少第一物理特性和第二物理特性，所述裝置包括：

A．一個射線源，其能夠至少以第一能級和第二能級交替發射，以及一個檢測器陣列，其位于所述區域的相反側，所述射線源安裝在一個可旋轉件上，該可旋轉件可以繞著區域的所述縱向軸線旋轉，同時所述射線源向著所述檢測器陣列發出射線，所述檢測器陣列接收來自所述區域的射線以產生有關所述區域的掃描數據；

B．一個重現計算機，其從所述掃描檢測器接收從相應多個視角獲得的多個掃描數據投影，每個掃描數據投影包括在其相應視角上的掃描數據，所述重現計算機還確定出至少一個圖像數據片段，每個數據片段對應于一個沿所述區域的所述縱向軸線的位置；

C．一個空間分析計算機，其接收所述圖象數據并選擇至少一個與所述視角之一相對應的清晰路徑掃描數據投影，其中所述清晰路徑投影包括至少所述物體，以及一個數據選擇裝置，其接收所述各組掃描數據并選擇第一能級上的第一組掃描數據和第二能級上的第二組掃描數據，每組數據分別對應于所述清晰路徑投影；

D．一個投影計算機，其接收所述第一組掃描數據和所述第二組掃描數據并產生代表所述第一物理特性的第一值和代表所述第二物理特性的第二值，并且利用所述第一值和所述第二值的函數識別和鑒定所述物體。