[發(fā)明專利]調(diào)整檢測(cè)器判定電平改進(jìn)檢測(cè)性能的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置和方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 01101322.2 | 申請(qǐng)日: | 2001-01-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN1363931A | 公開(公告)日: | 2002-08-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 沈載晟;樸賢洙 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三星電子株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G11B20/10 | 分類號(hào): | G11B20/10;G11B20/18 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 | 代理人: | 馬瑩 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 調(diào)整 檢測(cè)器 判定 電平 改進(jìn) 檢測(cè) 性能 數(shù)據(jù) 再現(xiàn) 裝置 方法 | ||
1.一種包含均衡器和數(shù)據(jù)檢測(cè)器的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置,均衡器均衡輸入數(shù)字信號(hào),數(shù)據(jù)檢測(cè)器檢測(cè)基于部分響應(yīng)最大似然性的均衡器的輸出數(shù)據(jù),該數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置包含電平判定單元,該電平判定單元用于檢測(cè)與來自均衡器輸出的數(shù)據(jù)檢測(cè)器使用的判定電平對(duì)應(yīng)的電平,并反饋校正的判定電平到數(shù)據(jù)檢測(cè)器,校正的判定電平隨著均衡器的輸出電平自適應(yīng)地變化。
2.如權(quán)利要求1中所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置,其中電平判定單元包括:
用于臨時(shí)存儲(chǔ)均衡器輸出的多個(gè)延遲單元,延遲單元串聯(lián)相連;
電平檢測(cè)器,用于比較來自多個(gè)延遲單元的連續(xù)的兩個(gè)或三個(gè)采樣數(shù)據(jù)以檢測(cè)數(shù)據(jù)檢測(cè)器中使用的判定電平并提供多個(gè)電平判定信號(hào)和選擇多個(gè)延遲單元之一輸出的選擇信號(hào);
多路復(fù)用器,用于響應(yīng)選擇信號(hào)選擇和輸出多個(gè)延遲單元的輸出之一;
多個(gè)平均器,用于平均該多路復(fù)用器的輸出并將平均后的校正的判定電平反饋到數(shù)據(jù)檢測(cè)器,每一個(gè)平均器被多個(gè)電平判定信號(hào)之一所使能。
3.如權(quán)利要求2所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置,其中數(shù)據(jù)檢測(cè)器是PR(a,b,a)型。
4.如權(quán)利要求3所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置,其中電平檢測(cè)器檢測(cè)過零點(diǎn)發(fā)生在來自多個(gè)延遲單元中某些延遲單元的兩個(gè)連續(xù)采樣數(shù)據(jù)的積小于0的點(diǎn)上并將這兩個(gè)采樣數(shù)據(jù)中的一個(gè)作為+中間電平,另一個(gè)作為-中間電平。
5.如權(quán)利要求3所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置,其中電平檢測(cè)器檢測(cè)多個(gè)延遲單元輸出的三個(gè)連續(xù)采樣數(shù)據(jù)中的中心采樣數(shù)據(jù),當(dāng)所有三個(gè)采樣數(shù)據(jù)都超過預(yù)定的門限時(shí),電平檢測(cè)器就將該中心采樣數(shù)據(jù)作為+最大電平,當(dāng)這三個(gè)連續(xù)采樣數(shù)據(jù)都小于預(yù)定的門限時(shí),電平檢測(cè)器就將該中心采樣數(shù)據(jù)作為-最大電平。
6.如權(quán)利要求2所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置,其中數(shù)據(jù)檢測(cè)器是PR(a,b,b,a)型。
7.如權(quán)利要求6所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置,其中電平檢測(cè)器檢測(cè)過零點(diǎn)發(fā)生在來自多個(gè)延遲單元中某些延遲單元的兩個(gè)連續(xù)采樣數(shù)據(jù)的積等于或小于0的點(diǎn),比較這兩個(gè)采樣數(shù)據(jù)的絕對(duì)值,檢測(cè)其絕對(duì)值等于或大于另一個(gè)采樣數(shù)據(jù)的絕對(duì)值的采樣數(shù)據(jù),當(dāng)該采樣數(shù)據(jù)大于零時(shí)就將該采樣數(shù)據(jù)作為+中間電平,當(dāng)該采樣數(shù)據(jù)小于零時(shí)就將該采樣數(shù)據(jù)作為-中間電平,當(dāng)兩個(gè)連續(xù)采樣數(shù)據(jù)中的后者大于零時(shí)就將該兩個(gè)被比較的連續(xù)采樣數(shù)據(jù)之前的采樣數(shù)據(jù)作為+或-中間電平檢測(cè),并且當(dāng)兩個(gè)連續(xù)采樣數(shù)據(jù)中的前者大于零時(shí)就將該兩個(gè)被比較的采樣數(shù)據(jù)之后的采樣數(shù)據(jù)作為+或-中間電平檢測(cè)。
8.如權(quán)利要求6所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置,其中電平檢測(cè)器檢測(cè)從多個(gè)延遲單元輸出的三個(gè)連續(xù)采樣數(shù)據(jù)中的中心采樣數(shù)據(jù),當(dāng)所有三個(gè)采樣數(shù)據(jù)都大于預(yù)定門限時(shí),就將中心采樣數(shù)據(jù)作為+最大電平,當(dāng)三個(gè)連續(xù)采樣數(shù)據(jù)都小于該預(yù)定門限時(shí),就將中心采樣數(shù)據(jù)作為-最大電平。
9.如權(quán)利要求6所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置,其中電平檢測(cè)器確定過零點(diǎn)發(fā)生在來自多個(gè)延遲單元中某些延遲單元的兩個(gè)連續(xù)采樣數(shù)據(jù)的積等于或小于0的點(diǎn),并且當(dāng)其中一個(gè)采樣數(shù)據(jù)的絕對(duì)值小于另一個(gè)采樣數(shù)據(jù)的絕對(duì)值就將該采樣數(shù)據(jù)確定為零電平。
10.如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置,進(jìn)一步包括:
一個(gè)用于采樣輸入射頻(RF)信號(hào)并提供采樣數(shù)據(jù)的采樣器;
直流偏移補(bǔ)償器,用于從采樣數(shù)據(jù)消除直流偏移并輸出所得到的采樣數(shù)據(jù)到均衡器;
電平誤差檢測(cè)器,用于檢測(cè)與來自均衡器輸出的在數(shù)據(jù)檢測(cè)器中使用的判定電平對(duì)應(yīng)的電平并用于檢測(cè)被測(cè)電平和預(yù)定參考值之間的電平誤差;
自適應(yīng)處理器,用于給均衡器提供自適應(yīng)的濾波器系數(shù)以使電平誤差和目標(biāo)電平值之間的差最小。
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