[發(fā)明專利]寬度縮小的光學組件

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 01101244.7
• 申請日: 2001-01-04
• 公開（公告）號: CN1303070A
• 公開（公告）日: 2001-07-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: D·D·波恩;D·S·奧利弗;P·E·詹森
• 申請（專利權(quán)）人: 惠普公司
• 主分類號: G06K9/20
• 分類號: G06K9/20
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 程天正,王忠忠

1．一種電子器件(100)的制造方法，其特征在于包括：

提供一個基片(110)；

提供多個光學部件(180)，它們各自包括一個光電檢測部分(200)和電連接到上述光電檢測部分(200)的一個接口部分(202)；

將上述多個光學部件(180)中的第一個(185)安裝到上述基片(110)上，使它的上述光電檢測部分(205)沿著第一軸線(AA)排列，而它的上述接口部分(225)在第一方向(246)上偏離上述第一軸線(AA)；

將上述多個光學部件(180)中的第二個(186)安裝到上述基片(110)上，使它的上述光電檢測部分(206)沿著上述第一軸線(AA)排列，而它的上述接口部分(226)在第二方向(244)上偏離上述第一軸線(AA)，第二方向不同于上述第一方向(246)。

2．按照權(quán)利要求1的方法，其特征是：

上述多個光學部件(180)中的第一個(185)的上述安裝步驟進一步包括沿著第二軸線(CC)排列它的上述接口部分(225)；

上述多個光學部件(180)中的第二個(186)的上述安裝步驟進一步包括沿著第三軸線(BB)排列它的上述接口部分(226)；并且

上述第二軸線(CC)與上述第三軸線(BB)和上述第一軸線(AA)基本平行。

3．一種電子器件(100)，包括：

一個基片(110)；

安裝在上述基片(110)上的至少一個第一線性光學部件(188)；

安裝在上述基片(110)上的至少一個第二線性光學部件(186)；

上述的至少一個第一和至少一個第二光學部件(188,186)各自包括：

一個光電檢測部分(205,206)；以及

電連接到上述光電檢測部分(205,206)的一個接口部分(225,226)；

其中的上述至少一個第一線性光學部件(188)的上述光電檢測部分(205)沿著第一軸線(AA)排列；

上述至少一個第二線性光學部件(186)的上述光電檢測部分(206)沿著上述第一軸線(AA)排列；

上述至少一個第一線性光學部件(188)的上述接口部分(225)在第一方向(246)上偏離上述第一軸線(AA)；

而上述至少一個第二線性光學部件(187)的上述接口部分(226)在第二方向(244)上偏離上述第一軸線(AA)，第二方向不同于上述第一方向(246)。

4．按照權(quán)利要求3的器件，其特征是：

上述至少一個第一線性光學部件(188)的上述接口部分(225)沿著第二軸線(CC)排列；

上述至少一個第二線性光學部件(186)的上述接口部分(226)沿著第三軸線(BB)排列；并且

上述第二軸線(CC)與上述第三軸線(BB)和上述第一軸線(AA)基本平行。

5．按照權(quán)利要求3的器件，其特征是：

上述至少一個第二光學部件包括至少兩個光學部件(187,196)，它們的接口部分(227,236)在上述第二方向(244)上偏離上述第一軸線(AA)；

上述至少一個第一光學部件(188)位于上述至少兩個光學部件(187,196)之間；以及

在上述至少兩個光學部件(187,196)的上述接口部分(227,236)之間限定了一個空隙。

6．按照權(quán)利要求5的器件，其特征是進一步包括：

安裝在上述基片(110)上并且至少是局部位于上述空隙中的至少一個第一電子部件(253)。

7．按照權(quán)利要求3的器件，其特征是上述電子器件(100)和一個光學掃描裝置配合使用。