[發明專利]測試元件分析系統無效
| 申請號： | 00817616.7 | 申請日： | 2000-12-08 |
| 公開（公告）號： | CN1413298A | 公開（公告）日： | 2003-04-23 |
| 發明（設計）人： | W·佩特里希;W·施密德;G·科歇爾謝德特;J·－M·阿斯福爾 | 申請（專利權）人： | 羅赫診斷器材股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/77 | 分類號： | G01N21/77;G01N33/49;G01N33/493;G01N33/487 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 蔡民軍,趙辛 |
| 地址： | 德國*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試 元件 分析 系統 | ||
【說明書】：
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