[發(fā)明專利]半導(dǎo)體存儲裝置及其測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 00816447.9 | 申請日： | 2000-12-01 |
| 公開（公告）號： | CN1402873A | 公開（公告）日： | 2003-03-12 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 高橋弘行;稻葉秀雄;草刈隆 | 申請（專利權(quán)）人： | 日本電氣株式會社 |
| 主分類號： | G11C11/406 | 分類號： | G11C11/406;G11C11/407;G11C29/00 |
| 代理公司： | 中原信達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人： | 穆德駿,方挺 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 半導(dǎo)體 存儲 裝置 及其 測試 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于日本電氣株式會社，未經(jīng)日本電氣株式會社許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/00816447.9/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
