[發(fā)明專利]半導體存儲裝置及其測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 00816447.9 | 申請日： | 2000-12-01 |
| 公開（公告）號： | CN1402873A | 公開（公告）日： | 2003-03-12 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 高橋弘行;稻葉秀雄;草刈隆 | 申請（專利權(quán)）人： | 日本電氣株式會社 |
| 主分類號： | G11C11/406 | 分類號： | G11C11/406;G11C11/407;G11C29/00 |
| 代理公司： | 中原信達知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司 | 代理人： | 穆德駿,方挺 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 半導體 存儲 裝置 及其 測試 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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