[發(fā)明專利]測(cè)試磁頭元件的方法和裝置

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 00812274.1
• 申請(qǐng)日: 2000-07-14
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN1371479A
• 公開(kāi)（公告）日: 2002-09-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 加里·A·甘德
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 佩姆星公司
• 主分類號(hào): G01R33/00
• 分類號(hào): G01R33/00
• 代理公司: 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司
• 代理人: 戎志敏

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種在HSA(磁頭堆棧組件)或SHS(單磁頭懸浮)中測(cè)試磁頭元件的裝置。具體地說(shuō)，本發(fā)明涉及一種測(cè)量和估算磁頭元件的偽-非對(duì)稱特征的方法和裝置。

背景技術(shù)

計(jì)算機(jī)硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器通常包括用于讀寫(xiě)磁記錄元件(硬盤(pán))的磁頭。這些磁頭是磁頭堆棧組件(HAS)的典型組成部分，還包括向硬盤(pán)寫(xiě)入磁變化的元件和讀出磁頭早先寫(xiě)的磁變化的元件。典型的寫(xiě)元件包括內(nèi)繞軟磁極片的薄膜導(dǎo)體；典型的讀元件是磁阻(MR)或大磁阻(GMR)條，當(dāng)磁阻條的磁場(chǎng)變化時(shí)，磁阻條的磁阻也變化。

通常，生產(chǎn)商測(cè)試他們的HAS，以確保只把好的HAS裝入磁盤(pán)組和硬驅(qū)。一種常規(guī)測(cè)試方法使用昂貴的“旋轉(zhuǎn)臺(tái)”測(cè)試機(jī)器識(shí)別“壞”磁頭，，該方法要求HAS被裝入安裝在測(cè)試機(jī)上的“磁盤(pán)測(cè)試堆棧上。這些旋轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試器測(cè)量的關(guān)鍵屬性之一是軌道平均非對(duì)稱，(TAA，也稱之為軌道平均幅度非對(duì)稱，或TAAA)。TAA是測(cè)量磁頭對(duì)一系列寫(xiě)在測(cè)試軌道上的磁變化的幅度響應(yīng)的正負(fù)部分的非對(duì)稱特性。也就是，TAA測(cè)量來(lái)自測(cè)試磁盤(pán)組的前寫(xiě)軌道讀回信號(hào)的非對(duì)稱性。TAA通常表示為軌道峰-峰幅度V_p-p的百分比。如果TAA的絕對(duì)值超過(guò)一特定的預(yù)設(shè)值，典型值是±15％，就給磁頭加上“壞”標(biāo)簽。大于±15％的TAA一般要引起注意，由于糾錯(cuò)碼算法的超范圍應(yīng)用和/或產(chǎn)品失效于一預(yù)設(shè)的軟錯(cuò)誤率標(biāo)準(zhǔn)，非對(duì)稱性可能會(huì)影響驅(qū)動(dòng)器性能。

常規(guī)的旋轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試方法的一個(gè)問(wèn)題是存在對(duì)任何時(shí)間要求裝入HAS和/或磁盤(pán)組。造成物理傷害的風(fēng)險(xiǎn)它造成產(chǎn)量損失和生產(chǎn)商成本增加。這個(gè)方法的另一問(wèn)題是裝入過(guò)程的時(shí)間消耗。這個(gè)問(wèn)題既降低了生產(chǎn)線上驅(qū)動(dòng)器的產(chǎn)出量又要求生產(chǎn)商并行安裝旋轉(zhuǎn)測(cè)試機(jī)器。

很明顯，需要有一種不再要求裝入操作或昂貴旋轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試器的改進(jìn)的測(cè)試方法。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明包括硬件、勵(lì)磁方法、數(shù)據(jù)收集、操作過(guò)程和能夠識(shí)別有上述問(wèn)題磁頭的軟件。本發(fā)明使用這些元器件建立一種測(cè)試HSA的方法，它不需要裝入操作和昂貴的旋轉(zhuǎn)臺(tái)。

本發(fā)明的一方面是用于測(cè)試磁頭元件的一種裝置，由一電磁結(jié)構(gòu)組成，包括磁芯多個(gè)電繞組、適合容納磁頭元件的氣隙。電源可操作地連接到多個(gè)電線圈，串聯(lián)諧振激勵(lì)器可操作地連接到電源。本發(fā)明的某些實(shí)施例還包括可操作地連接到串聯(lián)諧振激勵(lì)器并且適合補(bǔ)償通過(guò)此氣隙的磁場(chǎng)強(qiáng)度變化的控制器。

本發(fā)明另一方面涉及一種測(cè)試磁頭元件的方法，方法包括下列步驟：把磁場(chǎng)加到磁頭元件、測(cè)量磁頭元件的輸出信號(hào)，計(jì)算基頻信號(hào)和多次諧波信號(hào)的功率電平，利用功率電平計(jì)算失真指示值。本發(fā)明某些實(shí)施例還包括根據(jù)此失真指示值接受或拒絕磁頭組件的步驟。提供磁場(chǎng)的步驟需要制備一電磁結(jié)構(gòu)，其中包括磁芯、多個(gè)電繞組、氣隙，利用與串聯(lián)諧振激勵(lì)器相連的電源在多個(gè)線圈中產(chǎn)生電流。

本發(fā)明第三方面涉及一種測(cè)試磁頭元件的系統(tǒng)。這個(gè)系統(tǒng)包括環(huán)繞磁頭元件產(chǎn)生磁場(chǎng)的裝置、處理數(shù)據(jù)的計(jì)算機(jī)處理器裝置、在存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)裝置、從磁頭元件收集數(shù)據(jù)的第一裝置、處理數(shù)據(jù)產(chǎn)生磁頭元件輸出失真指示值的第二裝置。

本發(fā)明第四方面涉及一種檢測(cè)有缺陷磁頭元件的方法，該方法的實(shí)施例包括：，在磁結(jié)構(gòu)中插入磁頭元件，磁結(jié)構(gòu)包括導(dǎo)電元件，在導(dǎo)電元件中感應(yīng)電流，因而磁結(jié)構(gòu)產(chǎn)生環(huán)繞磁頭組件的磁場(chǎng)，產(chǎn)生的磁場(chǎng)與感應(yīng)電流有關(guān)，同時(shí)控制感應(yīng)電流并且測(cè)量磁頭元件的輸出信號(hào)。

本發(fā)明的一個(gè)特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)是提供了一種類似于TAA的“好/壞”評(píng)估方法，但它并不需要將HSA裝入磁盤(pán)組并且不要求昂貴的旋轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試器。參考下面的描述、權(quán)利要求、附圖，以便更好地理解本發(fā)明的這個(gè)以及其它特點(diǎn)、方面和優(yōu)點(diǎn)。

附圖說(shuō)明

圖1是磁頭堆棧組件測(cè)試器的電磁激勵(lì)裝置實(shí)施例透視圖。

圖2是一個(gè)數(shù)據(jù)收集和數(shù)據(jù)分析實(shí)施例方框圖。

圖3是一個(gè)周期的時(shí)間-磁場(chǎng)變化的曲線圖。

圖4是響應(yīng)圖3磁場(chǎng)由磁頭元件產(chǎn)生的第一緩沖磁頭電壓輸出曲線圖。

圖5是響應(yīng)圖3磁場(chǎng)由磁頭元件產(chǎn)生的第二緩沖磁頭電壓輸出曲線圖。

圖6是本發(fā)明“失真％測(cè)試結(jié)果與旋轉(zhuǎn)臺(tái)TAA測(cè)試結(jié)果比較圖。

具體實(shí)施方案