[發明專利]用于電子設備測試中的自動對準接口裝置

無效

• 申請號: 00808489.0
• 申請日: 2000-07-21
• 公開（公告）號: CN1353817A
• 公開（公告）日: 2002-06-12
• 發明（設計）人: 詹姆斯·J·克里根;小弗蘭克·K·波特
• 申請（專利權）人: 坦索利特公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/02;H01R13/64;H01R13/73
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所
• 代理人: 馬高平,楊梧

??????????????????????????技術領域

本發明涉及接口裝置，特別涉及用于電子設備測試中，特別是用于微波設備測試中的自動對準接口裝置。

??????????????????????????背景技術

微波設備的電子測試，包括多種工業標準和特定用途的微波接口的使用，這樣的接口諸如Type?N，Type?F，SMA?TNC和BNC，通常需要以人工的方式將每個單獨的測試電纜和每個接口連接在一起。因此，這些程序是單調乏味而且是耗費時間的。

雖然目前已經具有多種能快速地將單獨的電纜連接到接口的設備，但這樣的設備存在局限性和缺點而且每個測試電纜必須單獨地連接到接口上。因此，這些設備的成果很有限。

自動對準的同軸電纜連接器已經被設計出來，它能在“無人監視”的情況下將同軸電纜與安裝在固定機座上的匹配連接器互連在一起。美國專利申請US5,746,617就是這樣一種自動對準同軸電纜連接器的例子。

??????????????????????????發明內容

本發明的一個目的是提供一種用于電子設備測試中，特別是用于在微波裝置測試中的自動對準接口裝置，它沒有目前先有技術中所存在的局限性和缺點。

本發明的另一個目的是提供一種用于電子設備測試中，特別是用于微波裝置測試中的高效的接口裝置，它能使一個需要測試的設備中的多個連接器基本上同時與一個測試設備互連在一起。

本發明的另一個目的是提供一種接口裝置，它具有多個能基本上同時與一個需要測試的設備中的多個連接器互連在一起的自動對準同軸連接器。

根據本發明的一個實施例，本發明涉及一種接口裝置，所述接口裝置具有多個能基本上同時與一個需要測試的設備中的多個連接器互連在一起的自動對準同軸連接器，所述接口裝置包括基體元件、第一接口和第二接口。第一接口和第二接口是相互隔開的以接收所述需要測試的設備。第一接口和第二接口中的至少一個能在基體元件上滑動以便可移動到與位于兩個接口之間的需要測試的設備接合和分離的位置處。第一接口和第二接口中的至少一個具有多個自動對準同軸連接器，這些同軸連接器所處位置能使它們與需要測試的設備上的多個連接器互連在一起。設置推動裝置以能將接口移向需要測試的設備，從而可使自動對準同軸連接器和需要測試的設備中的連接器以配合的方式接合在一起。在操作中，這些接口被相互隔開，并且需要測試的設備位于被隔開的接口之間。當推動裝置推動一個或兩個接口并使之移動到與需要測試的設備接合的位置處時，安裝在一個或兩個接口上的自動對準同軸連接器基本上同時與需要測試的設備中的多個連接器互連在一起。連接在自動對準連接器上的電纜被設置成與一個分析器以及用于對需要測試的設備進行測試的電源相連的形式。完成測試以后，推動裝置推動接口并使它們分開，從而使自動對準連接器和需要測試的設備中的連接器分離?，F在接口裝置將準備接收下一個需要測試的設備。

從下面結合附圖對本發明的各個方面的詳細描述中可以更容易地理解本發明的上述和其他目的、特征與優點。

因此，如在下面詳細披露的內容中所例證的，本發明包括體現結構特征的步驟和裝置、適于實施這樣步驟的元件組合以及部件的布置，后面的權利要求中限定了本發明的保護范圍。

??????????????????????????附圖說明

從下面結合附圖對本發明的詳細描述中可以更容易地理解本發明的上述和其他目的、特征與優點，在附圖中：

圖1是使用本發明的測試系統的一個示意圖；

圖2是本發明所涉及的接口裝置的一個透視圖，該接口裝置具有多個自動對準同軸連接器，該接口裝置位于打開位置處以接收需要測試的設備；

圖3是圖2中所示接口裝置位于關閉狀態位置處的一個透視圖，其中自動對準同軸連接器處于與需要測試的設備接合的狀態；

圖4是表示圖2中所示自動對準同軸連接器中的一些細節的一個頂視圖；

圖5是表示圖2中所示自動對準同軸連接器中的另外一些細節的一個頂視圖；

圖6是表示圖2中所示自動對準同軸連接器中的一些細節的一個頂視圖；以及

圖7是接口裝置的另一個實施例的一個透視圖，其中該接口裝置位于打開位置處，該接口裝置有多個矩形排列的自動對準同軸連接器，一個需要測試的設備位于該接口裝置中。

????????????????????????具體實施方式