[發明專利]光放大器和光放大方法無效
| 申請號: | 00808180.8 | 申請日: | 2000-03-17 |
| 公開(公告)號: | CN1353878A | 公開(公告)日: | 2002-06-12 |
| 發明(設計)人: | 津崎哲文;西村正幸;重松昌行;畑山均;笹岡英資 | 申請(專利權)人: | 住友電氣工業株式會社 |
| 主分類號: | H01S3/10 | 分類號: | H01S3/10;H01S3/067;H01S3/131 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人: | 王以平 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 放大器 放大 方法 | ||
1.一種光放大器,是把屬于規定的波長范圍,波長不同的多個信號光合并而成的多重信號光一并放大的光放大器,其特征在于包括:
具有添加了熒光物質的光波導路,利用前述熒光物質的光抽運放大前述多重信號光的一個或多個光放大部,
把規定的抽運光供給到前述光放大部的抽運光源,
在前述規定的波長范圍內能夠變更損失L(dB)對波長λ(nm)的斜率dL/dλ的濾光器,以及
控制前述抽運光源的抽運光輸出以便使放大后的光功率成為規定的目標值,并且調整前述濾光器的特性并調整最終的增益特性的控制機構。
2.根據權利要求1所述的光放大器,其特征在于,前述濾光器在前述規定的波長范圍內滿足
L≈a(λ-λc)+b(λc(nm)、b(dB)是常數),通過變更a(dB/nm)來調整斜率dL/dλ。
3.根據權利要求1所述的光放大器,其特征在于,還包括補償前述光放大部固有的增益的波長依存性的增益均衡器。
4.根據權利要求1所述的光放大器,其特征在于,還包括檢測前述多重信號光中所包含的信號光的數目的波數監視器;前述控制機構根據由前述波數監視器所檢測的信號光的數目來調整放大后的光功率的目標值。
5.根據權利要求1所述的光放大器,其特征在于,還包括檢測輸入到前述光放大部的光功率的輸入光功率檢測機構;前述控制機構基于前述輸入光功率檢測機構的檢測結果來調整前述濾光器的斜率dL/dλ。
6.根據權利要求1所述的光放大器,其特征在于,還包括檢測前述光放大部的增益的增益檢測機構;前述控制機構基于前述增益檢測機構的檢測結果來調整前述濾光器的斜率dL/dλ。
7.根據權利要求1所述的光放大器,其特征在于,還包括檢測從前述光放大部所輸出的光中所包含的信號光的各波長、功率的檢測機構;前述控制機構基于由前述檢測機構所檢測的最短、最長波長的功率偏差來調整前述濾光器的斜率dL/dλ。
8.根據權利要求7所述的光放大器,其特征在于,還包括讀出與前述多重信號光一起送來的輸入光信號中的最短、最長波長的有關信息的讀出機構;前述控制機構基于由前述讀出機構所得到的信息來求出前述功率偏差。
9.根據權利要求1所述的光放大器,其特征在于,還包括檢測位于從前述光放大部所輸出光的前述規定的波長范圍的兩端外側的各個ASE光能級的ASE光能級檢測機構;7前述控制機構調整前述濾光器的斜率dL/dλ,以便由前述ASE光能級檢測機構所檢測的各個ASE光能級的能級差成為恒定。
10.根據權利要求1所述的光放大器,其特征在于,還包括檢測從前述光放大部所輸出的光中所包含的信號光的各波長、功率的檢測機構,以及檢測位于由前述檢測機構所檢測的最短波長光的短波長側和最長波長光的長波長側的各個ASE光能級的ASE光能級檢測機構;前述控制機構調整前述濾光器的斜率dL/dλ,以便由前述ASE光能級檢測機構所檢測的各個ASE光能級的能級差成為恒定。
11.根據權利要求10所述的光放大器,其特征在于,還包括讀出與前述多重信號光一起送來的輸入光信號中的最短、最長波長的有關信息的讀出機構;前述ASE光能級檢測機構基于由前述讀出機構所得到的信息來確定求出ASE光能級的波長。
12.根據權利要求2所述的光放大器,其特征在于,前述濾光器的前述λc在前述規定的波長范圍內設定。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于住友電氣工業株式會社,未經住友電氣工業株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/00808180.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





