[發明專利]使用波數域反射技術及背景振幅減少和補償的多層共焦干涉顯微術無效
| 申請號: | 00807026.1 | 申請日: | 2000-03-16 |
| 公開(公告)號: | CN1351705A | 公開(公告)日: | 2002-05-29 |
| 發明(設計)人: | 亨利·A·西爾 | 申請(專利權)人: | 探索研究院 |
| 主分類號: | G01B9/02 | 分類號: | G01B9/02 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 | 代理人: | 韓宏 |
| 地址: | 美國亞*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 使用 波數域 反射 技術 背景 振幅 減少 補償 多層 焦干 顯微 | ||
1、一種把在一物體內和/或上的一信息承載區的在焦圖象從離焦圖象區分出來以減小在確定由在該物體內和/或上的信息承載區表示的信息中的誤差的方法,它包括以下步驟:
(a)從一個單色點輻射光源的陣列產生一個探測光束和一個參考光束;
(b)通過將該探測光束引至該信息承載區內和/或上的在焦圖象點的一陣列而產生一個在焦返回探測光束;
(c)產生在焦返回探測光束的反對稱空間性質;
(d)產生一個在焦參考光束;
(e)產生在焦參考探測光束的反對稱空間性質;
(f)使該在焦參考光束與來自多個離焦圖象點的光束發生干涉;
(g)使在焦參考光束與在焦返回探測光束發生干涉;
(h)通過借助于一檢測器的檢測器元件檢測該在焦探測返回光束的復振幅作為干涉數據而減少由該檢測器產生的數據中的系統和統計誤差以表示確定的該信息,其中該干涉數據包括一在該在焦參考光束和該在焦返回探測光束之間的一干涉項和在該與離焦圖象點相關聯的離焦圖象光束與在焦參考光束的對應部分之間的振幅顯著減小的另一干涉項。
2、根據權利要求1的方法,其中步驟(h)包括檢測該在焦參考光束作為該在焦參考光束的振幅的一非線性函數并在自該些參考項的振幅確定該在焦返回探測光束的復振幅中使用該振幅。
3、根據權利要求1的方法,包括提供一光盤作為該物體。
4、根據權利要求1的方法,包括提供人體或動物目標的原位組織作為該物體。
5、根據權利要求1的方法,包括提供人體或動物目標的切除的活檢組織作為該物體。
6、根據權利要求1的方法,包括提供該物體中和/或上的一參考表面并對位于該參考表面上的在焦參考圖象點執行步驟(b)至(h),且確定位于該信息承載區中和/或上的在焦參考圖象點相對于該參考表面的位置。
7、根據權利要求1的方法,包括提供在該物體和該探測光束之間的相對機械移動以允許對在在焦圖象點的該物體的其他部分執行步驟(b)至(h)。
8、一種把在一物體內和/或上的一信息承載區的在焦圖象從離焦圖象區分出來以減小在確定由在該物體內和/或上的信息承載區表示的信息中的誤差的方法,它包括以下步驟:
(a)從一個單色點輻射光源的陣列產生一個探測光束和一個參考光束;
(b)通過將該探測光束引至該信息承載區內和/或上的在焦圖象點的一陣列而產生一個在焦返回探測光束,該在焦返回探測光束包括多個在焦返回子光束,各在焦返回子光束與該陣列的至少一個在焦圖象點相關聯;
(c)產生各在焦返回子光束的反對稱空間性質;
(d)產生一個在焦參考光束,該在焦參考光束包括多個在焦參考子光束,各在焦參考子光束分別與一在焦返回子光束相關聯;
(e)產生各在焦參考子光束的反對稱空間性質;
(f)使該在焦參考光束與來自多個離焦圖象點的一光束發生干涉;
(g)使在焦參考光束與在焦返回探測光束發生干涉;
(h)通過借助于一檢測器陣列的檢測器元件檢測這些在焦返回子光束的復振幅作為干涉數據而減少由該檢測器陣列產生的數據中的系統和統計誤差以表示確定的該信息,其中該干涉數據包括在對應的在焦參考子光束和在焦返回探測子光束之間的干涉項和在該與離焦圖象點相關聯的離焦圖象光束與對應的在焦參考子光束之間的振幅顯著減小的其他干涉項。
9、根據權利要求8的方法,其中步驟(h)包括檢測該在焦參考光束作為該在焦參考光束的振幅的一非線性函數并在自該些參考項的振幅確定該在焦返回探測光束的復振幅中使用該振幅。
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