[發(fā)明專利]套管井所穿過的地層的電阻率的測(cè)定方法和裝置

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 00806787.2
• 申請(qǐng)日: 2000-04-21
• 公開（公告）號(hào): CN1349614A
• 公開（公告）日: 2002-05-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 保羅·貝吉恩;多米尼克·貝尼米利;帕特里克·埃雷特;瑪麗－特里西·古諾特;弗朗科伊斯·赫奎特;彼得·范德沃爾
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 施藍(lán)姆伯格技術(shù)公司
• 主分類號(hào): G01V3/20
• 分類號(hào): G01V3/20
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所
• 代理人: 魏曉剛,李曉舒

1.一種探測(cè)一套管井孔穿之而過的地層的方法，所述方法的特征在于以下事實(shí)，即：

在一第一步驟中，電流在一沿縱向與所述地層間隔開來的第一點(diǎn)(In1)上注入套管(11)，以便使電流漏入所述地層，而位于所述地層位置處限定相鄰的兩段套管的各電極(a，b，c)用以測(cè)定沿著所述兩段的各自電位降；

在一第二步驟中，電流在一沿縱向與所述地層間隔開來并位于離開所述第一點(diǎn)的其相反一側(cè)上的第二點(diǎn)(In2)上注入套管，以便使電流漏入地層，而所述各電極用以測(cè)定沿著所述兩段的電壓降；

兩個(gè)步驟的相應(yīng)測(cè)量結(jié)果結(jié)合起來以獲得對(duì)應(yīng)于由兩個(gè)注入點(diǎn)之間的套管所構(gòu)成并基本上免除了漏入地層的一個(gè)電路的各數(shù)值；以及

作為地層電阻率表征的電流泄漏是根據(jù)取自第一步驟和第二步驟的測(cè)量結(jié)果，以及根據(jù)得自所述結(jié)合的數(shù)值來確定的。

2.按照權(quán)利要求1所述的一種方法，其中第一注入點(diǎn)位于地層上方，而第二注入點(diǎn)位于所述地層下方，而綜合處理在于從第一步驟的測(cè)量結(jié)果中減去第二步驟的測(cè)量結(jié)果。