[發明專利]電磁波發生源查找裝置,其方法和其分析方法

無效

• 申請號: 00806523.3
• 申請日: 2000-04-21
• 公開（公告）號: CN1352745A
• 公開（公告）日: 2002-06-05
• 發明（設計）人: 上坂晃一;新保健一
• 申請（專利權）人: 株式會社日立制作所
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08;G01B7/00;G01S5/12
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 吳立明,王忠忠

本發明所屬的技術領域

本發明涉及一種可查找，指定在印刷電路板中安裝有各種電子部件的制品等的電子設備的不需要的電磁波(電磁妨礙波)的發生源的位置的電磁波發生源查找裝置及其方法，并且涉及可對是否滿足VCCI(信息處理裝置等電波障礙自律協議會)的規格等的情況進行分析的電磁波發生源分析系統及其方法。

背景技術

在不需要的電磁輻射抑制技術中，由于伴隨近年來的信息通信設備等的普及造成的不需要的電磁波產生的電磁波障礙頻繁發生，故人們要求檢測發生源的技術，以便抑制該原因造成的不需要的電磁波(電磁妨礙波)。

作為與該電磁波發生源的查找方式有關的已有技術，包括有比如，電子信息通信學會論文誌B-II?1985年10月、菊池淳一著“開口合成的不需要電磁波發生源的位置推斷方法的方案”(已有技術1)、電子信息通信學會論文誌B-II?1986年9月、菊池淳一著“應用最大的熵法的電磁波發生源的位置推斷”(已有技術2)、NEC技法1993年9月林昌世著“EMC電磁場測定與數值分析”(已有技術3)，以及JP特開平4-329376號文獻(已有技術4)。

上述已有技術1相當于下述方式，即將微小單球天線作為電場探頭，沿平面上的正交坐標系，按照波長的4分之1的間距，將其排列，采用與排列面積相等的開口面天線，測定不需要的電磁波。根據該測定值的相位變化，指定電磁波發生源所在的開口面上的位置，與其它方式相比較，運算時間較短，可檢測大小，相位這兩者的值，但是具有分辨率變低，達到波長的4分之1的程度的問題。

另外，在上述已有技術2中，相對按照一定時間連續測定的電磁波的時間序列信息，使適合采用最大熵法的能譜，與二維坐標空間的電磁波發生源的位置相對應，雖然其具有位置精度較高的優點，但是，具有下述的問題，即必須進行一定時間以上的連續測定，另外不能夠檢測波源的相位信息，不能夠通過計算，求出遠方界。

此外，在上述已有技術3中，將電磁波發生源區域分割為微小格子，采用與格子點相等的數量的測定值，通過電流與磁場的線性方程式，進行求解，由此指定電磁波發生源位置，但是如果電磁波發生源位于微小格子，并且測定值5精確，則獲得點位置，獲得大小和相位的正確值。但是，具有下述問題，即如果至少任何一個包含誤差，則線性方程式不收斂，無法獲得解，或求出完全不同的解。

還有，在上述已有技術4中，由于通過固定式的參照天線和移動式的測定天線，測定通過電磁放射源放射的電磁場，采用通過測定天線接收的電磁場的振幅，與通過參照天線和測定天線測定的電磁場的相位差，借助與電磁波妨礙源的分布有關的推斷式與該推斷式的空間的微分值，推斷電磁妨礙源的位置，故具有下述問題，即只要仍通過測定天線測定的測定點不很多，則不能夠看到空間微分值變大的情況，推斷精度變差。

本發明的目的在于為了解決上述問題，抑制裝置遠方的電磁場，提供下述的電磁波發生源查找裝置及其方法，在該裝置和方法中，可以較高精度，高速地在較少的測定點，查找、指定位于受測對象上的任意位置的不需要的電磁波(電磁妨礙波)的發生源。

另外，本發明的另一目的在于提供可對受測對象是否滿足VCCI規格的情況進行分析、判斷的電磁波發生源分析系統及其方法。

此外，本發明的另一目的在于提供抑制可查找受測對象上的，已查找的不需要的電磁波(電磁妨礙波)的發生源的原因的電磁波分析系統及其方法。

本發明的公開方案