[發明專利]基于光學的、使用窄帶發射增益介質進行排序、編碼和驗證的方法和裝置

無效

• 申請號: 00805973.X
• 申請日: 2000-01-07
• 公開（公告）號: CN1351731A
• 公開（公告）日: 2002-05-29
• 發明（設計）人: N·M·拉萬迪
• 申請（專利權）人: 光譜系統公司
• 主分類號: G06K9/74
• 分類號: G06K9/74
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 羅朋,張志醒

1.一種與基體共同使用的設備，包括一種連接到一種結構的增益介質，該結構支持產生至少一種電磁輻射模式。

2.一種與基體共同使用的設備，包括一種連接到一種結構的增益介質，該結構的一維或一段在一個或多個方向上產生和支持放大自發射(ASE)。

3.一種安全設備，包括一種光學增益介質和一種帶有將所有幾何形狀傳遞給該結構的邊界的結構，安全設備與該結構的至少一種材料屬性相結合，通過促成產生至少一種增強窄帶波長電磁輻射發射模式來支持由增益介質發出的電磁輻射增強。

4.如權利要求3中的安全設備，其中適合該結構的形狀包括如絲狀細長普通圓柱形、球形、半球形、環形、立方形、其它多面體形以及圓盤形。

5.如權利要求3中的安全設備，其中該結構包括單片結構、多層結構或按尺寸排列的結構中的至少一種，這些結構可以供給用于產生一種模式的分布式光學反饋。

6.如權利要求3中的安全設備，其中該結構是貨幣、護照、彩票、可兌現證券、信用卡或借記卡，或任何想要進行驗證、計數、編碼、分類或核實中至少一種操作的基體或載體的一部分。

7.一種處理憑證的方法，包括下列步驟：

提供要驗證的憑證，憑證包括一個基體和至少一個安全結構，安全結構包括一種光學增益介質和一種用于(a)促使產生至少一種模式或(b)支持放大自發射中至少其中之一的結構；

使用所選燈光照射至少一部分憑證以激勵增益介質；

檢測憑證作為對照射步驟響應而發出的至少一種波長的發射；以及

只有檢測到發射并確定是類激光發射才判定憑證是真實的。

8.如權利要求7中的方法，其中提供憑證的步驟提供具有安全結構的憑證，安全結構包括作用與有益于產生至少一種模式的結構一樣的聚合物層。

9.如權利要求7中的方法，其中安全結構包括至少一條細絲。

10.如權利要求7中的方法，其中安全結構每個都包括一種多層結構。

11.如權利要求10中的方法，其中多層結構的一層包括一個反射層。

12.如權利要求10中的方法，其中多層結構的一層包括一個有圖案的，調整了下面一層厚度的反射層。

13.如權利要求10中的方法，其中安全結構的反射率不同于基體的反射率，這樣安全結構與基體未變址(non-indexed)地匹配。

14.如權利要求7中的方法，其中安全結構包括至少一種細絲，其中發射的波長是細絲直徑的函數。

15.如權利要求7中的方法，其中安全結構包括一個圓片，其中發射的波長是圓片厚度的函數。

16.如權利要求7中的方法，其中安全結構包括一個包含交替區域的DFB結構，其中發射的波長是各個區域厚度的函數。

17.一種安全結構，包括一種光學增益介質和一種其一維或一段在一個或多個方向上產生和支持放大自發射(ASE)的結構，增強在窄帶范圍內的電磁輻射發射。

18.如權利要求17中的安全結構，其中該安全設備是貨幣、護照、彩票、可兌現證券、信用卡或借記卡，或任何想要進行驗證、計數、編碼、分類或核實中至少一種操作的基體或載體的一部分。