[發明專利]適用于生產環境中測量偏振模色散的系統和方法

無效

• 申請號: 00805897.0
• 申請日: 2000-03-07
• 公開（公告）號: CN1346436A
• 公開（公告）日: 2002-04-24
• 發明（設計）人: D·W·艾倫;A·F·埃文斯;J·G·拉奇
• 申請（專利權）人: 康寧股份有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 上海專利商標事務所
• 代理人: 沈昭坤

1.一種用于測量在測光纖的偏振模式色散測量系統，其特征在于所述系統包括。

至少一個在第一波長和第二波長上發光的非相干光源；

可調到至少三個偏振狀態的光學偏振器；

分別在所述第一和第二波長上通過光且可插入所述至少一個光源和所述偏振器之間的光路上的兩個帶通濾光器，從所述偏振器輸出的光由所述在測光纖接收；以及

接收所述在測光纖的光輸出并測量所述在測光纖接收的光的偏振狀態的偏振計。

2.如權利要求1所述的系統，其特征在于所述至少一個光源包括：第一和第二發光二極管，分別以所述第一和第二波長發光；所述第一和第二帶通濾光器分別接收所述第一和第二發光二極管的光輸出；

進一步包括具有分別接收所述第一和第二帶通濾光器輸出的兩個第一開關輸入端的第一光開關，以及可選擇地接入到第一開關輸出端、接收第一開關輸出的偏振器。

3.權利要求2所述的系統，其特征在于進一步包括：

第二光開關，它包括：

接收在測光纖的光輸出的第二開關輸入端，和

至少兩個第二開關輸出端，可選擇地接到第二開關輸入端，第一個開關輸出端的輸出由偏振器所接收；以及

光檢測器，接收第二開關的第二輸出。

4.如權利要求3所述的系統，其特征在于進一步包括一激光器，它在與第一和第二發光二極管有關的帶寬中發射激光，且其中所述第一開關包括接收所述激光器的輸出并可選擇接到第一開關輸出端的第三個第一開關輸入端。

5.如權利要求3所述的系統，其特征在于進一步包括可見光激光器，它發射可見波長的激光，并且其中所述第一開關包括接收所述可見激光器輸出并可選擇地接到所述第一開關輸出端的第四個第一開關輸入端。

6.如權利要求1所述的系統，其特征在于進一步包括：

一光學開關，它包括：

一開關輸入端，接收在測光纖的光輸出，和

至少兩個開關輸出端，可選擇地接到所述開關輸入端，第一個開關輸出端的輸出由所述偏振計接收；以及

光檢測器，接收第二個開關輸出端的輸出。

7.如權利要求1所述的系統，其特征在于進一步包括：

一激光器，在與所述第一和第二波長有關的帶寬內發射激光；和

開關，包括至少兩個輸入端，分別接收所述激光器和所述兩個帶通濾光器的輸出，并可選擇地接到向在測光纖提供光的輸出上。

8.如權利要求1所述的系統，其特征在于進一步包括：

可見光激光器，在可見波長上發射激光；和

開關，包括至少兩個輸入端，分別接收所述激光器和所述兩帶通濾光器的輸出，并可選擇地接到向在測光纖提供光的輸出上。

9.如權利要求1所述的系統，其特征在于進一步包括一扭曲單元，能沿在測光纖引入所選扭曲量。

10.如權利要求1所述的系統，其特征在于進一步包括負載單元，能對在測光纖引入所選的負載。

11.一種測量光纖中雙折射特性的方法，其特征在于所述方法包括下述步驟：

(a)使非相干光通過帶通濾光器傳輸以形成探測光；

(b)設定所述探測光的偏振狀態；

(c)使具有設定偏振狀態的探測光通過在測光纖；

(d)在具有設定偏振狀態的探測光出射光纖后，檢測其偏振狀態；以及

(e)重復步驟(a)至(d)的順序，確定在測光纖的雙折射特性。

12.如權利要求11所述的方法，其特征在于，進一步包括將在測光纖與相干光對準的步驟。

13.如權利要求11所述的方法，其特征在于，所述確定步驟利用對通過兩個帶通濾光器的兩個光波長測得的偏振狀態和三組偏振狀態。

14.如權利要求13所述的方法，其特征在于，所述確定步驟利用瓊斯矩陳分析。

15.如權利要求11所述的方法，其特征在于，所述雙折射特性是差分群延遲。

16.如權利要求11所述的方法，其特征在于，進一步包括下述步驟：

(f)將在測光纖扭曲至某一扭曲值，其中所述確定步驟確定對應于所述扭曲值的雙折射特性。