[發明專利]檢測光纖缺陷的方法

有效

• 申請號: 00803865.1
• 申請日: 2000-12-14
• 公開（公告）號: CN1340155A
• 公開（公告）日: 2002-03-13
• 發明（設計）人: 東藤慎平;仲恭宏;相川明
• 申請（專利權）人: 古河電氣工業株式會社
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00;G01N21/896
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司
• 代理人: 蹇煒

1.一種用于檢測光纖缺陷的缺陷檢測方法，其中激光束從要測量光纖的軸的橫向方向照射在所述光纖上，以檢查透過所述光纖內部并且散射的前向散射光線的光強度分布，根據光強度分布模式檢測所述要測量光纖的缺陷，其中：

所述光強度分布模式服從具有弱平滑度的平滑過程和具有強平滑度的平滑過程以分別形成第一和第二模式，和根據所述第一和第二模式之間的差形成判斷模式，通過評價所述判斷模式的幅度檢測所述要測量光纖的缺陷。

2.一種用于檢測光纖缺陷的缺陷檢測方法，其中激光束從要測量光纖的軸的橫向方向照射在所述光纖上，以檢查透過所述光纖內部并且散射的前向散射光線的光強度分布，根據光強度分布模式檢測所述要測量光纖的缺陷，其中：

所述光強度分布模式服從具有弱平滑度的平滑過程和具有強平滑度的平滑過程以分別形成第一和第二模式，和通過將所述第二模式除以所述第一模式形成判斷模式，通過評價所述判斷模式的幅度檢測所述要測量光纖的缺陷。

3.按照權利要求1或2的光纖缺陷檢測方法，其中，形成與所述第一和第二模式有關的改變閾值模式，通過比較所述改變閾值模式和所述判斷模式評價所述判斷模式的幅度。

4.按照權利要求1到2的任何一個的光纖缺陷檢測方法，其中移動平均方法被用于平滑處理中。

5.一種用于檢測光纖缺陷的缺陷檢測方法，其中激光束從要測量光纖的軸的橫向方向照射在所述光纖上，以檢查透過所述光纖內部并且散射的前向散射光線的光強度分布，根據光強度分布模式檢測所述要測量光纖的缺陷，其中：

所述光強度分布模式服從傅立葉變換以形成傅立葉變換模式，所述傅立葉變換模式通過利用雙對數軸進行評價，具有對所述傅立葉變換模式高貢獻率餓判斷曲線被應用于所述傅立葉變換模式以查找所述傅立葉變換模式與判斷曲線的偏差，和根據該偏差幅度檢測所述要測量光纖的缺陷。

6.按照權利要求5的光纖缺陷檢測方法，其中所述光強度分布模式服從具有弱平滑度的平滑過程和具有強平滑度的平滑過程以分別形成第一和第二模式，和在所述模式中設置所述第一和第二模式之間的差或通過將所述第二模式除以第一模式所獲得的比值變成最大值的區域，通過對所述模式中所述區域部分地使用傅立葉變換檢測所述要測量光纖的缺陷。