[發(fā)明專(zhuān)利]硬幣識(shí)別裝置

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 00803533.4
• 申請(qǐng)日: 2000-03-31
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN1339144A
• 公開(kāi)（公告）日: 2002-03-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 拉里·J·豪斯;理查德·J·戴維斯
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 日本煙草產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社
• 主分類(lèi)號(hào): G07D5/08
• 分類(lèi)號(hào): G07D5/08
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所
• 代理人: 楊梧

1、一種硬幣識(shí)別裝置，其特征在于，包括：

多個(gè)渦流線(xiàn)圈，呈二維排列而在硬幣表面相對(duì)配置；

高頻驅(qū)動(dòng)裝置，高頻驅(qū)動(dòng)這些渦流線(xiàn)圈，向所述硬幣局部施加高頻磁場(chǎng)而使其產(chǎn)生渦流；

低頻驅(qū)動(dòng)裝置，低頻驅(qū)動(dòng)所述渦流線(xiàn)圈，向所述硬幣施加低頻磁場(chǎng)而使其產(chǎn)生渦流；

阻抗計(jì)測(cè)裝置，檢測(cè)向所述硬幣施加磁場(chǎng)的渦流線(xiàn)圈的、受所述硬幣上產(chǎn)生的渦流的影響而變化的阻抗；

材質(zhì)判定裝置，比較低頻驅(qū)動(dòng)所述渦流線(xiàn)圈時(shí)所述渦流線(xiàn)圈的阻抗和就正規(guī)硬幣預(yù)先求得的所述阻抗的標(biāo)準(zhǔn)值，判定該硬幣的材質(zhì)；

特征抽出裝置，根據(jù)高頻驅(qū)動(dòng)所述渦流線(xiàn)圈時(shí)各渦流線(xiàn)圈的阻抗，求出硬幣表面的沖壓圖形的凹凸信息；

圖形判定裝置，將由該特征抽出裝置求得的沖壓圖形的凹凸信息與預(yù)先求得的正規(guī)硬幣的沖壓圖形的凹凸信息進(jìn)行比較，識(shí)別硬幣的種類(lèi)。

2、如權(quán)利要求1所述的硬幣識(shí)別裝置，其特征在于，所述特征抽出裝置由頻率曲線(xiàn)編制裝置構(gòu)成，該頻率曲線(xiàn)編制裝置根據(jù)高頻驅(qū)動(dòng)所述渦流線(xiàn)圈時(shí)各渦流線(xiàn)圈的阻抗，將表示該阻抗的分布的頻率曲線(xiàn)作為表示硬幣表面的沖壓圖形的凹凸信息的特征信息進(jìn)行編制。

3、如權(quán)利要求1所述的硬幣識(shí)別裝置，其特征在于，所述多個(gè)渦流線(xiàn)圈在平面上構(gòu)成方形格子狀排列或構(gòu)成規(guī)定的幾何排列，而形成線(xiàn)圈陣列，

所述高頻驅(qū)動(dòng)裝置順序高頻驅(qū)動(dòng)構(gòu)成所述線(xiàn)圈陣列的所有渦流線(xiàn)圈，掃描硬幣的整個(gè)區(qū)域，所述低頻驅(qū)動(dòng)裝置僅低頻驅(qū)動(dòng)所述線(xiàn)圈陣列中的特定渦流線(xiàn)圈。

4、如權(quán)利要求3所述的硬幣識(shí)別裝置，其特征在于，所述低頻驅(qū)動(dòng)的特定渦流線(xiàn)圈由形成線(xiàn)圈陣列的多個(gè)渦流線(xiàn)圈中大致排列于中央部的規(guī)定個(gè)數(shù)的渦流線(xiàn)圈構(gòu)成。

5、如權(quán)利要求1所述的硬幣識(shí)別裝置，其特征在于，所述多個(gè)渦流線(xiàn)圈包括形成線(xiàn)圈陣列而設(shè)置并被高頻驅(qū)動(dòng)的多個(gè)渦流線(xiàn)圈和并列設(shè)置于該線(xiàn)圈陣列側(cè)部并被低頻驅(qū)動(dòng)的渦流線(xiàn)圈。

6、如權(quán)利要求1所述的硬幣識(shí)別裝置，其特征在于，所述多個(gè)渦流線(xiàn)圈包括形成線(xiàn)圈陣列而設(shè)置并被高頻驅(qū)動(dòng)的多個(gè)渦流線(xiàn)圈和與該線(xiàn)圈陣列重疊設(shè)置并被低頻驅(qū)動(dòng)的渦流線(xiàn)圈。

7、如權(quán)利要求1所述的硬幣識(shí)別裝置，其特征在于，還包括根據(jù)高頻驅(qū)動(dòng)所述渦流線(xiàn)圈時(shí)各渦流線(xiàn)圈的阻抗、計(jì)測(cè)硬幣直徑的硬幣直徑計(jì)測(cè)裝置。

8、如權(quán)利要求1所述的硬幣識(shí)別裝置，其特征在于，還包括根據(jù)以規(guī)定頻率驅(qū)動(dòng)所述渦流線(xiàn)圈時(shí)各渦流線(xiàn)圈的阻抗、計(jì)測(cè)硬幣的厚度的硬幣厚度計(jì)測(cè)裝置。

9、如權(quán)利要求1所述的硬幣識(shí)別裝置，其特征在于，還包括根據(jù)高頻驅(qū)動(dòng)所述渦流線(xiàn)圈時(shí)各渦流線(xiàn)圈的阻抗、作為二維或三維圖像捕捉硬幣表面的沖壓圖形的凹凸信息的圖像處理裝置。

10、如權(quán)利要求1所述的硬幣識(shí)別裝置，其特征在于，所述高頻驅(qū)動(dòng)裝置以700kHz～1MHz左右的頻率驅(qū)動(dòng)所述渦流線(xiàn)圈，使其產(chǎn)生高頻電磁場(chǎng)；所述低頻驅(qū)動(dòng)裝置以10kHz～100kHz左右的頻率驅(qū)動(dòng)所述渦流線(xiàn)圈，使其產(chǎn)生低頻電磁場(chǎng)。

11、如權(quán)利要求1所述的硬幣識(shí)別裝置，其特征在于，所述高頻驅(qū)動(dòng)裝置及所述低頻驅(qū)動(dòng)裝置由利用外部施加的控制電壓可變控制振蕩頻率的電壓控制型振蕩器構(gòu)成，

通過(guò)切換上述控制電壓切換驅(qū)動(dòng)渦流線(xiàn)圈的頻率，作為高頻驅(qū)動(dòng)裝置或低頻驅(qū)動(dòng)裝置發(fā)揮作用。

12、如權(quán)利要求1所述的硬幣識(shí)別裝置，其特征在于，所述多個(gè)渦流線(xiàn)圈通過(guò)多路轉(zhuǎn)換器擇一地接受電壓控制型振蕩器的輸出，而被振蕩驅(qū)動(dòng)，

所述多路轉(zhuǎn)換器可高速掃描施加電壓控制型振蕩器的輸出的渦流線(xiàn)圈。

13、如權(quán)利要求1所述的硬幣識(shí)別裝置，其特征在于，所述被低頻驅(qū)動(dòng)的渦流線(xiàn)圈與所述被高頻驅(qū)動(dòng)的多個(gè)渦流線(xiàn)圈獨(dú)立設(shè)置。

14、如權(quán)利要求1所述的硬幣識(shí)別裝置，其特征在于，所述低頻驅(qū)動(dòng)裝置以100kHz附近的多種頻率選擇性驅(qū)動(dòng)所述渦流線(xiàn)圈，或以100kHz附近的頻率范圍連續(xù)改變所述渦流線(xiàn)圈的驅(qū)動(dòng)頻率，產(chǎn)生向硬幣的多個(gè)部位施加的低頻電磁場(chǎng)。

15、如權(quán)利要求1所述的硬幣識(shí)別裝置，其特征在于，所述多個(gè)渦流線(xiàn)圈在平面上矩陣排列，形成線(xiàn)圈陣列，分別與硬幣的表、背面相對(duì)配置。