[發明專利]采用低功率雷達電平發送器的多過程產品界面檢測有效
| 申請號: | 00800010.7 | 申請日: | 2000-01-18 |
| 公開(公告)號: | CN1293755A | 公開(公告)日: | 2001-05-02 |
| 發明(設計)人: | 庫爾特·C·迪德;布賴恩·E·里克特 | 申請(專利權)人: | 羅斯蒙德公司 |
| 主分類號: | G01F23/284 | 分類號: | G01F23/284;G01S13/88 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 | 代理人: | 劉曉峰 |
| 地址: | 美國明*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 采用 功率 雷達 電平 發送 過程 產品 界面 檢測 | ||
1.一種低功率雷達電平發送器,用于多過程產品界面檢測,所述電平發送器具有:
-一個終端,該終端伸展入罐內的第一和第二產品中;
-一個脈沖發生器,該脈沖發生器與終端耦合,適用于產生微波發送脈沖,該發送脈沖沿終端發送入罐內的第一和第二產品中,發送脈沖的第一部分在第一產品界面被反射,發送脈沖的第二部分在第二產品界面被反射,所述第二產品界面系在第一與第二產品之間形成的界面;
-一脈沖接收器,該脈沖接收器與終端耦合,適用于接收與在第一產品界面上被反射的發送脈沖的第一部分相符的第一反射波脈沖和接收與在第二產品界面上被反射的發送脈沖的第二部分相符的第二反射波脈沖;
-一門限控制器,該門限控制器與脈沖接收器耦合,適用于對第一反射波脈沖是否至少滿足第一門限值和是否第二反射波脈沖至少滿足第二門限值進行檢測,并提供一與對第一和第二反射波脈沖的檢測有關的接收脈沖輸出信息;
-一介電常數計算器,該計算器與門限控制器耦合,適用于計算作為接收脈沖輸出信息的函數的罐內第一產品的介電常數;和
-一個料位計算機,該計算機與門限控制器和介電常數計算器耦合,適用于計算作為第一反射波脈沖的檢測時間的函數的第一產品料位,并適用于計算作為第二反射波脈沖的檢測時間的函數和作為計算出的第一產品的介電常數的函數的第二產品的料位。
2.按照權利要求1所述的電平發送器,其特征在于,終端線是雙對稱的微波傳輸線。
3.按照權利要求1所述的電平發送器,其特征在于,電平發送器與一雙線過程控制回路耦合,電平發送器還包括輸出電路,該輸出電路與雙線過程控制回路耦合,該回路用于通過回路發送與產品高度有關的信息。
4.按照權利要求3所述的電平發送器,其特征在于,電平發送器還包括電源電路,該電源電路與雙線過程控制回路耦合,該電源電路用于接收來自回路的能量,以便為發送器提供單獨的電源。
5.按照權利要求4所述的電平發送器,其特征在于,過程控制回路是一個4-20mA過程控制回路。
6.按照權利要求1所述的電平發送器,其特征在于,介電常數計算器計算作為與發送脈沖量值對應的第一反射波量值的函數的第一產品介電常數。
7.按照權利要求1所述的電平發送器,其特征在于,所述電平發送器還包括一模/數轉換器,該模/數轉換器與脈沖接收器耦合并用于將第一和第二反射波脈沖數字化,其中門限控制器、介電常數計算器和料位計算機構成一微處理器,該微處理器與模/數轉換器耦合,用于對數字化的第一和第二反射波脈沖進行檢測,用于計算第一產品的介電常數,并用于計算第一和第二產品的料位。
8.按照權利要求1所述的電平發送器,其特征在于,計算作為用戶輸入的數據的函數的第一和第二門限。
9.按照權利要求1所述的電平發送器,其特征在于,門限控制器包括:
-一比較器,該比較器具有第一和第二輸入端,第一輸入端與脈沖接收器耦合并用于接收第一和第二反射波脈沖;
-一微處理器,該微處理器用于產生表示所需門限的數字輸出;和
-一數/摸轉換器,該數/摸轉換器與微處理器耦合,用于接收數字輸出,數/摸轉換器將數字輸出轉換成模擬門限電壓并將模擬門限電壓提供給比較器第二輸入端。
10.按照權利要求1所述的電平發送器,其特征在于,脈沖發生器包括一低功率微波源。
11.按照權利要求10所述的電平發送器,其特征在于,脈沖接收器包括一低功率微波接收器。
12.一種低功率雷達電平發送器,用于進行多過程產品界面檢測,該電平發送器包括:
-一終端,該終端伸展進入罐內的第一和第二產品中;
-一低功率微波脈沖發生器,該發生器與終端耦合,用于產生微波發送脈沖,該微波發送脈沖沿終端被發送入罐內的第一和第二產品中;
-一低功率微波脈沖接收器,該接收器與終端耦合,用于接收與被反射的發送脈沖相符的反射波脈沖;
-介電常數計算裝置,該裝置與低功率微波脈沖接收器耦合,用于計算第一產品的介電常數;和
-料位計算裝置,該裝置與低功率微波脈沖接收器和介電常數計算裝置耦合,用于計算第一和第二產品的料位。
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