[實(shí)用新型]晶片測(cè)試裝置

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 00245839.X
• 申請(qǐng)日: 2000-08-15
• 公開（公告）號(hào): CN2444311Y
• 公開（公告）日: 2001-08-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳文杰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 陳文杰
• 主分類號(hào): H01L21/66
• 分類號(hào): H01L21/66
• 代理公司: 天津三元專利事務(wù)所
• 代理人: 周永銓

1、一種晶片測(cè)試裝置，設(shè)有驅(qū)動(dòng)元件及控制器，其特征在于其主要包括：

一底座，其上設(shè)有一固定座，其上架設(shè)有一導(dǎo)引構(gòu)件；

一本體，架設(shè)于該導(dǎo)引構(gòu)件，并呈依導(dǎo)引方向移動(dòng)的結(jié)構(gòu)，一升降座套接于該本體，形成可上下移動(dòng)的結(jié)構(gòu)，一驅(qū)動(dòng)元件固設(shè)于該本體，該驅(qū)動(dòng)元件每啟動(dòng)一次移動(dòng)一單位距離，且該驅(qū)動(dòng)元件校正驅(qū)動(dòng)該升降座上移動(dòng)設(shè)定距離；

一置物構(gòu)件，固設(shè)于該升降座，其上設(shè)有一定位槽，該定位槽內(nèi)置放一晶片；

一檢測(cè)構(gòu)件，設(shè)置位于置物構(gòu)件的上側(cè)，且架設(shè)于該固定座上，該檢測(cè)構(gòu)件架設(shè)有一基板，該基板設(shè)有一測(cè)試座；

上述結(jié)構(gòu)相組合構(gòu)成晶片測(cè)試裝置，其本體在置物構(gòu)件置放晶片，移動(dòng)到測(cè)試區(qū)定位，逐次驅(qū)動(dòng)該升降座逐次上升，該晶片接觸基板的測(cè)試座，該升降座上升高度經(jīng)一控制器儲(chǔ)存，以作為下次啟動(dòng)該升降座上升高度的依據(jù)。

2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片測(cè)試裝置，其特征在于其中所述的本體端側(cè)設(shè)有預(yù)定數(shù)目的導(dǎo)桿，該導(dǎo)桿靠合升降座的導(dǎo)槽，該升降座形成依導(dǎo)桿導(dǎo)正上下移動(dòng)、并不偏移的結(jié)構(gòu)。

3、根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的晶片測(cè)試裝置，其特征在于其中所述的本體上設(shè)有一可阻擋升降座上移停止、避免置物構(gòu)件碰擊基板的限位元件。

4、根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片測(cè)試裝置，其特征在于其中所述的固定座上設(shè)有一偵測(cè)本體移到測(cè)試區(qū)正確定位的偵測(cè)元件，該升降座上升，晶片接觸基板的測(cè)試座。