[實用新型]在線監測薄膜、鍍膜及涂布膜膜層厚度均勻性的裝置

無效

• 申請號: 00224940.5
• 申請日: 2000-06-02
• 公開（公告）號: CN2435740Y
• 公開（公告）日: 2001-06-20
• 發明（設計）人: 唐能誠;胡建河
• 申請（專利權）人: 唐能誠
• 主分類號: G01N21/89
• 分類號: G01N21/89;B05C11/02
• 代理公司: 湖南省專利服務中心
• 代理人: 羅建民

1、一種在線監測薄膜、鍍膜及涂布膜膜層厚度均勻性的裝置，包括光源部分、探測器部分和微機處理及顯示部分，其特征在于光源部分是由凹面反射鏡(1)或聚光透鏡和白熾燈泡(2)或聚光燈泡構成或是小型半導體激光器，探測器部分采用硅光電探測器(5)，光源部分和探測器部分構成一個或一個以上的監測點，光源部分在被測物體的一側，白熾燈泡(2)或半導體激光器與電源連接，探測器部分在被測物體的另一側，并與微機處理及顯示部分連接。

2、根據權利要求1所述在線監測薄膜、鍍膜及涂布膜膜層厚度均勻性的裝置，其特征在于微機處理及顯示部分主要由有數字信號輸出的數字面板表(V)或A/D轉換裝置及一臺單片微處理機或PC機組成。

3、根據權利要求1所述在線監測薄膜、鍍膜及涂布膜膜層厚度均勻性的裝置，其特征在于所使用的半導體激光器發射光譜波長650nm的紅光或波長為800nm左右的近紅外光。

4、根據權利要求1所述在線監測薄膜、鍍膜及涂布膜膜層厚度均勻性的裝置，其特征在于所使用的探測器(5)為硅光電探測器，通常帶有屏蔽筒(4)或類似屏蔽筒作用的裝置。

5、根據權利要求1所述在線監測薄膜、鍍膜及涂布膜膜層厚度均勻性的裝置，其特征在于在對測量精度不是要求太高或光源的發光強度足夠穩定的情況下，每個監測點的探測器(5)用一只，探測器的兩電極之間并聯可調負載電阻(r)，對于測量精度要求很高或光源的發光強度穩定性達不到要求的情況，則每個監測點的探測器(5)由二只帶屏蔽筒(4)的硅光電探測器(P1、P2)組成，并在光源(S)與被測物(M、3)之間有一塊分光鏡(N)使從光源(S)發射并經聚或準直后的光被分光鏡(N)分為兩束：一束被分光鏡(N)反射、反射光束進入一只探測器(P2)，另一束從分光鏡透過后再透過被測物(M)進另一只探測器(P1)，兩只探測器電極兩端各并聯一只適當阻值的負載電阻(r1、r2)，其中至少有一只為可調電阻，兩只硅光電探測器(P1、P2)和他們各自的負載電阻以及數字面板表(V)或A/D轉換裝置一起構成一個電橋。

6、根據權利要求1所述在線監測薄膜、鍍膜及涂布膜膜層厚度均勻性的裝置，其特征在于在探測器屏蔽筒(4)前安裝適當波長范圍的濾光片(7)。

7、根據權利要求1所述在線監測薄膜、鍍膜及涂布膜膜層厚度均勻性的裝置，其特征在于所使用的數字面板表(V)或A/D轉換裝置應具有與在線被測物(3、M)運動速度相適應的采樣速度。

8、根據權利要求1所述在線監測薄膜、鍍膜及涂布膜膜層厚度均勻性的裝置，其特征在于當使用白熾燈作光源監測有明顯彩色特征時，為了提高監測的分辯力，可在被測物(3、M)與光源(S)之間加裝適當波長范圍的濾光片。

9、根據權利要求1所述在線監測薄膜、鍍膜及涂布膜膜層厚度均勻性的裝置，其特征在于各監測點的所有光源(S)均保持一定距離固定在同一塊光源安裝板(8)上，而監測點所有的探測器(5)也保持一定距離固定在探測器安裝板(10)，每個監測點的光源(S)與探測器(P)均一一對準，而兩塊安裝板則保持一定的距離相互平行并固定在某一位置。被測物(3、M)則從兩安裝板之間穿過并在生產過程中不斷運動。