[發明專利]薄窗正比管探測器的制作方法無效
| 申請號： | 00135430.2 | 申請日： | 2000-12-22 |
| 公開（公告）號： | CN1297156A | 公開（公告）日： | 2001-05-30 |
| 發明（設計）人： | 谷正海;毛建萍;張仁健;宮一忠;顧福源 | 申請（專利權）人： | 中國科學院紫金山天文臺 |
| 主分類號： | G01T1/18 | 分類號： | G01T1/18;H01J47/06 |
| 代理公司： | 中國科學院南京專利事務所 | 代理人： | 栗仲平 |
| 地址： | 210008*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 正比 探測器 制作方法 | ||
【權利要求書】：
1、一種薄窗正比管探測器的制作方法：包括以下工作步驟：
將聚丙烯薄膜用熱頂伸法延伸，使其厚度均勻地拉薄到1μm左右，成為超薄薄膜；
在超薄薄膜上噴鍍超薄金屬層；
用熱溶膠將超薄薄膜緊密地粘接在正比計數管的窗口上；
在正比計數管窗口上設置薄膜支撐網；
將超薄聚丙烯膜上的金屬層接地。
2、按照權利要求1所述的薄窗正比管探測器的制作方法，其特征是：在正比計數管窗口上設置薄膜支撐網時，所說的薄膜支撐網采用雙層網，其中一個網的線寬為1-0.6mm，每8-12mm設一線；另一個網的線寬為50-70μm，每0.8-1.2mm設一線。
3、按照權利要求2所述的薄窗正比管探測器，其特征是：雙層薄膜支撐網中的一個線寬為0.8mm，每10mm設一線，另一個線寬為60μm，每1mm設一線。
4、按照權利要求1或2或3所述的薄窗正比管探測器，其特征是：在超薄薄膜上噴鍍超薄金屬層時，所說的超薄金屬層厚度為100-150A。
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