[發明專利]金屬表面涂層檢測系統

無效

• 申請號: 00129460.1
• 申請日: 2000-12-28
• 公開（公告）號: CN1361417A
• 公開（公告）日: 2002-07-31
• 發明（設計）人: 王京平;戴漢如;李兆華
• 申請（專利權）人: 中國石化集團齊魯石油化工公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 青島發思特專利代理有限公司
• 代理人: 蔡紹強,鞏同海

本發明屬于測量技術領域中利用X射線來測試或分析材料的范疇，涉及一種適用于電解槽金屬陽極表面涂層貴金屬含量檢測的金屬表面涂層檢測系統。

電解NaCl是工業化制造NaOH和氯氣的重要方法。電解過程中在陽極生成氯氣，在陰極生成NaOH溶液和氫氣。監測電解槽的金屬陽極的活性和腐蝕狀況、對舊陽極的表面貴金屬涂層含量的檢測和新陽極表面貴金屬涂層含量的檢定、評價是氯堿廠生產管理和設備管理過程中的重要工作之一。

金屬陽極表面噴涂以釕為主的貴金屬經過氧化后的活性金屬氧化物，其作用有二：一方面能夠減緩金屬陽極在運行過程中受到的腐蝕；另一方面，以釕為主的金屬氧化物具有電催化性能，能降低氯離子在陽極放電所需要的電位。

現有技術中檢測金屬陽極涂層的活性，常用的分析方法有析氯電位和檢測陽極表面涂層中貴金屬含量等方法。但單片陽極析氯電位測試系統由于分析手段單一，測試過程中受外界影響較大，起不到判斷金屬陽極涂層的活性的作用，相比之下檢測金屬陽極表面涂層中貴金屬含量的分析方法是比較準確的。

目前國內檢測金屬陽極表面涂層貴金屬含量的方法是采用破壞法取樣，破壞法是從陽極上取下一個樣片，到金屬陽極檢測中心使用X熒光檢測儀進行測試，由于采用破壞性取樣，被損壞的陽極不能繼續使用，這種方法有很大的局限性；同時由于各生產廠在涂制金屬陽極時，涂液采用不同的工藝配方，在檢測時使用統一的標準片作為對照基準，其測試結果必然誤差較大，所以這種方法有很大的局限性；X熒光檢測儀多為便攜式，具有使用靈活、方便的特點，但由于操作環境隨意，易造成X射線的外溢，對儀器、人員的保護較困難，X光衰減快，數據處理不準確。

本發明的目的是提供一種適合對各種槽型隔膜電解槽金屬陽極進行全封閉、全方位、非破壞性、非接觸式檢測，并通過計算機進行數據處理，實現對金屬陽極涂層中貴金屬的含量、涂層均勻度的分析，測試結果準確性高的金屬表面涂層檢測系統。

為了達到上述目的，本發明提供了一種金屬表面涂層檢測系統，包括計算機處理單元、測試平臺機箱、系統控制器及安全鎖和控制接口、熱交換器和電制冷控制器以及高壓電源，其特征在于：測試平臺機箱設置探頭組合塊、陽極檢測托架和蓋板，探頭組合塊中設置X光管、濾光片轉換器、前置放大器和Si探頭；X光管經導線與高壓電源連接，Si探頭經導線和導管與熱交換器及電制冷控制器連接，熱交換器及電制冷控制器和前置放大器經導線與系統控制器及安全鎖和控制接口連接，系統控制器及安全鎖和控制接口經導線分別與濾光片轉換器、高壓電源、測試平臺機箱以及計算機處理單元連接。

所述的測試平臺機箱頂部設置蓋板，機箱內設置橫向滑道、陽極托架縱向滑道和安全聯鎖開關；橫向滑道上設置可移動的橫向滑道組合架，兩個橫向滑道組合架之間由縱向滑桿連接，縱向滑桿上設置可沿縱向滑桿移動的探頭組合塊；陽極托架縱向滑道上設置可沿托架縱向滑道移動的金屬陽極放置托架；探頭組合塊和安全聯鎖開關經導線與系統控制器及安全鎖和控制接口連接。

所述的探頭組合塊設置有X光管和接收器。

所述的測試平臺機箱和蓋板接觸處設置有安全聯鎖開關，測試平臺機箱底部設置有鉛防護板，測試平臺機箱上設置有安全指示燈，安全指示燈經導線與系統控制器及安全鎖和控制接口連接。

所述的橫向滑道組合架之間沿縱向滑桿設置有縱向標尺，橫向滑道一側設置有橫向標尺。

所述的探頭組合塊對被檢測樣品發射X光，接收被檢測樣品的特征熒光，探頭組合塊與被檢測樣品之間無直接接觸。

與現有技術相比，本發明具有以下特點：

1.采用固定式的形式，適合室內封閉測試和大規模測試，有利于保證測試結果的準確性。

2.用防護裝置將被測金屬陽極封閉起來，有利于防止X射線的外溢。

3.適合對金屬陽極任意點的表面涂層貴金屬含量進行全封閉、全方位、非破壞性、非接觸式的檢測。

4.帶有安全聯鎖裝置，確保設備和工作人員的安全。

5.能對光譜自動進行數據處理和處理測量誤差，實現對金屬陽極任意點涂層貴金屬含量的準確測試，測試結果可信度高。

以下結合附圖對本發明作進一步闡述：

圖1是本發明的系統組成示意圖。

圖2是本發明的測試平臺機箱結構示意俯視圖。

圖3是本發明的測試平臺機箱的A-A端面剖面圖。