[發明專利]檢測再現信號的方法和電路無效
| 申請號: | 00128779.6 | 申請日: | 2000-09-21 |
| 公開(公告)號: | CN1289115A | 公開(公告)日: | 2001-03-28 |
| 發明(設計)人: | 朱盛晨;大塚達宏;李坰根 | 申請(專利權)人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | G11B7/005 | 分類號: | G11B7/005;G11B7/13;G11B20/22 |
| 代理公司: | 柳沈知識產權律師事務所 | 代理人: | 馬瑩 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 再現 信號 方法 電路 | ||
1、一種使用光檢測器件檢測再現信號的方法,該光檢測器件用于接收從光記錄介質反射的光信號,并且將接收的信號劃分成對應于光檢測器件的區段的多個信號,該光檢測器件區段以矩陣排列,該矩陣具有光記錄介質的切線方向上的行和徑向方向上的列,該方法包括步驟:
(a)根據記錄在光記錄介質上的數據情況、從相近的凹坑和從記錄介質上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾、和/或各種系統狀態,從光檢測器件的輸出信號中選擇比其它信號有更小劣變的某些信號;和
(b)基于檢測結果,通過補償由于數據情況、從相近的凹坑和從記錄介質上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾、和/或各種系統狀態引起的信號干擾量,從選擇信號中獲得再現信號。
2、如權利要求1所述的方法,其中在步驟(a)中,根據由于數據情況或從相近的凹坑和從記錄介質上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾引起的信號干擾,選擇與一些信號的組合對應的光檢測器件輸出中的一個,所述一些信號與在徑向排列的光電檢測裝置的區段相對應。
3、如權利要求1所述的方法,其中在步驟(a)中,根據由于散焦引起的信號干擾,選擇與一些信號的組合對應的光檢測器件輸出中的一個,所述一些信號與對角排列的光電檢測裝置的區段相對應。
4、如權利要求1所述的方法,其中在步驟(a)中,根據由于失跟蹤引起的信號干擾,選擇與一些信號的組合對應的光檢測器件輸出中的一個,所述一些信號與在光道方向排列的光電檢測裝置的區段相對應。
5、如權利要求1所述的方法,其中在步驟(a)中,根據由于徑向傾斜引起的信號干擾,選擇與一些信號的組合對應的光檢測器件輸出中的一個,所述一些信號與在光道方向排列的光電檢測裝置的區段相對應。
6、如權利要求1所述的方法,其中在步驟(a)中,根據由于切線傾斜引起的信號干擾,選擇與一些信號的組合對應的光檢測器件輸出中的一個,所述一些信號與在徑向排列的光電檢測裝置的區段相對應。
7、如權利要求1所述的方法,其中在步驟(b)中,按照由于數據情況或從相近的凹坑和從記錄介質上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾引起的信號干擾量,自適應均衡光檢測器件的被選擇的輸出。
8、如權利要求1所述的方法,其中所述再現信號用來增加系統的散焦裕度。
9、如權利要求1所述的方法,其中所述再現信號用來增加系統的失跟蹤裕度。
10、如權利要求1所述的方法,其中所述再現信號用來增加系統的徑向傾斜裕度。
11、如權利要求1所述的方法,其中所述再現信號用來增加系統的切線傾斜裕度。
12、一種使用光檢測器件檢測再現信號的方法,該光檢測器件包括光電檢測裝置,用于接收從光記錄介質反射的光信號,并且將所接收的信號劃分成多個信號,該方法包括下列步驟:
(a)檢測與一些信號的組合對應的光檢測器件的輸出,所述一些信號與在光道方向排列的光電檢測裝置的區段相對應;檢測與一些信號的組合對應的輸出,所述一些信號與在徑向排列的光電檢測裝置的區段相對應;和/或檢測與一些信號的組合對應的輸出,所述一些信號與對角排列的光電檢測裝置的區段相對應;和
(b)檢測通過再現在步驟(a)中檢測的輸出獲得的輸出信號中的一個好的信號作為再現信號。
13、如權利要求12所述的方法,還包括步驟(c),通過檢測記錄在光記錄介質上的數據情況、從相近的凹坑和從記錄介質上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾、和/或各種系統狀態,控制一個好的信號將被檢測為步驟(b)中的再現信號。
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