[發明專利]集成光學部件,光頭以及光學記錄和/或再現裝置無效
| 申請號: | 00128611.0 | 申請日: | 2000-07-08 |
| 公開(公告)號: | CN1284714A | 公開(公告)日: | 2001-02-21 |
| 發明(設計)人: | 游馬嘉人 | 申請(專利權)人: | 索尼公司 |
| 主分類號: | G11B7/12 | 分類號: | G11B7/12;G11B7/135 |
| 代理公司: | 柳沈知識產權律師事務所 | 代理人: | 王志森 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 集成 光學 部件 光頭 以及 記錄 再現 裝置 | ||
1.一種用于光頭的集成光學部件,既能與第一光學記錄載體相兼容,以便能用第一激光束在第一光學記錄載體上記錄和/或讀取信息,又能與第二光學記錄載體相兼容,以便能用第二激光束在第二光學記錄載體上記錄和/或讀取信息,其中第二激光束的波長比第一激光束的短;所述集成光學部件包括:
一個具有開口的封殼,封裝有一個光發射器和一個光探測器;
所述光發射器用于從所述的第一激光器和第二激光器分別發射出第一和第二激光束;第一和第二激光束是從相互靠近的發光窗口發出的;
所述光探測器包括多個光電探測器,用以探測從第一光學記錄載體反射的第一激光束的反射部分,和從第二光學記錄載體反射的第二激光束的反射部分;以及
其中,在所述光探測器的多個光電探測器中,至少有兩個光電探測器位于集成光學部件所在的平面內,并處在由所述封殼開口內側的兩點所連成的第一連線的延長線上,其中一點通過出自所述封殼的第一激光束的主激光束,另一點通過出自所述封殼的第二激光束的主激光束。
2.根據權利要求1所述的集成光學部件,其特征在于,還包括一個光反射器,用于將從所述的光發射器發射的第一和第二激光束反射至所述封殼的開口處;
所述的光反射器規定由另兩點所連成的第二線,被光反射元件反射的第一激光束的主激光束通過其中一點,被光反射元件反射的第二激光束的主激光束通過另一點,而且所述的第二連線平行于所述的第一連線。
3.根據權利要求1所述的集成光學部件,其特征在于,還包括一個連接所述發光點的第三連線,第三連線平行于所述的第一連線和第二連線。
4.根據權利要求1所述的集成光學部件,其特征在于,還包括一個光路分路器,用于將所述的從第一光學記錄載體反射的第一激光束的反射部分分成第一多個光路,而將所述的從第二光學記錄載體反射的第二激光束的反射部分分成第二多個光路;
所述的第一光路和第二光路入射到所述的光探測器。
5.根據權利要求4所述的集成光學部件,其特征在于,所述的光路分路器包括一個衍射器,用于分別衍射第一激光束的反射部分和第二激光束的反射部分。
6.根據權利要求4所述的集成光學部件,其特征在于,所述的光路分路器包括一個具有一半透層的光學棱鏡。
7.根據權利要求1所述的集成光學部件,其特征在于,還包括一個分光器,用于將從所述光發射器發射的第一激光束分成至少三光束,包括一零級激光束,一正一級激光束和一負一級激光束。
8.根據權利要求7所述的集成光學部件,其特征在于,所述的分光器允許所有的零級激光束充分地通過。
9.根據權利要求7所述的集成光學部件,其特征在于,所述的正和負一級激光束由不是位于所述的第一連線上的所述多個光電探測器中的光電探測器探測,以便于用三激光束法計算出一個跟蹤誤差信號。
10.根據權利要求1所述的集成光學部件,其特征在于,所述的位于第一連線延長線上的兩個光電探測器提供一個探測信號,根據所述第一激光束和第二激光束的反射部分,計算出一個聚焦誤差信號。
11.根據權利要求1所述的集成光學部件,其特征在于,所述的位于第一連線延長線上的兩個光電探測器提供探測信號,以便用微分三等分法計算出一個聚焦誤差信號,用DPD(微分相位探測)法計算出一個跟蹤誤差信號。
12.根據權利要求1所述的集成光學部件,其特征在于,所述的位于第一連線延長線上的三個光電探測器提供探測信號,以便用傅科法計算出一個聚焦誤差信號,用DPD(微分相位探測)法計算出一個跟蹤誤差信號。
13.根據權利要求1所述的集成光學部件,其特征在于,所述的位于第一連線延長線上的兩個光電探測器,探測記錄在第一和第二光學記錄載體上的信息信號。
14.根據權利要求1所述的集成光學部件,其特征在于,所述的光發射器包括一個雙波長半導體激光器二極管,用于發射所述的第一和第二激光束。
15.根據權利要求1所述的集成光學部件,其特征在于,所述的光發射器包括一個用于發射所述的第一激光束的第一半導體激光器二極管,和一個用于發射所述的第二激光束的第二半導體激光器二極管。
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