[發明專利]用于光學拾取的物鏡和光學拾取裝置

有效

• 申請號: 00126445.1
• 申請日: 2000-09-01
• 公開（公告）號: CN1286407A
• 公開（公告）日: 2001-03-07
• 發明（設計）人: 大田耕平;木村徹
• 申請（專利權）人: 柯尼卡株式會社
• 主分類號: G02B3/02
• 分類號: G02B3/02;G11B7/12
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 馮譜

1．一種用于在光學信息記錄介質上記錄或再現信息的光學拾取裝置中的物鏡，包括：

一個非球面；

其特征在于滿足下列狀態方程：1.1≤d1/f≤3

此處，d1表示透鏡的軸向厚度，f表示焦距。

2．如權利要求1所述的物鏡，其特征在于物鏡的數值孔徑不小于0.65。

3．如權利要求2所述的物鏡，其特征在于物鏡的數值孔徑不小于0.75。

4．如權利要求1所述的物鏡，其特征在于滿足下列狀態方程：

f/νd≤0.060

此處，νd表示阿貝數。

5．如權利要求1所述的物鏡，其特征在于滿足下列狀態方程：

1.40≤n

此處，n表示對使用波長的折射率。

6．如權利要求5所述的物鏡，其特征在于滿足下列狀態方程：

1.40≤n≤1.85

7．如權利要求1所述的物鏡，其特征在于滿足下列狀態方程：

0.40≤r1/(n·f)≤0.70

此處，r1表示物鏡其中一個表面的近軸曲率半徑。

8．如權利要求7所述的物鏡，其特征在于r1表示物鏡在光源一側的表面的近軸曲率半徑。

9．如權利要求1所述的物鏡，其特征在于使用的波長不長于500nm。

10．如權利要求1所述的物鏡，其特征在于物鏡是一種用在光學拾取裝置中的物鏡，在具有厚度不超過0.2mm的保護層的光學信息記錄介質中記錄或再現信息。

11．如權利要求10所述的物鏡，其特征在于數值孔徑不小于0.7。

12．如權利要求7所述的物鏡，其特征在于滿足下列狀態方程：1.50≤n

此處，n表示對使用波長的折射率。

13．如權利要求1所述的物鏡，其特征在于物鏡是一種塑料透鏡。

14．如權利要求1所述的物鏡，其特征在于物鏡是一種玻璃透鏡。

15．如權利要求1所述的物鏡，其特征在于滿足下列狀態方程：1.85≤n

此處，n表示對使用波長的折射率。

16．如權利要求1所述的物鏡，還包括一個衍射區域。

17．如權利要求1所述的物鏡，在其外周邊還包括一個凸緣區域。

18．如權利要求17所述的物鏡，其特征在于凸緣區域包括一個在垂直于光軸的方向上延伸的表面。

19．如權利要求1所述的物鏡，其特征在于透鏡的兩個表面都是非球面。

20．一種在光學信息記錄介質上記錄或再現信息的光學拾取裝置，包括：

一個發射光通量的光源；

一個會聚光源發出的光通量的聚光光學系統；和

一個探測從光學信息記錄介質上反射的光的光探測器；

其特征在于聚光光學系統包括一個物鏡，把光通量會聚到光學信息記錄介質的信息記錄表面，物鏡包括一個非球面；其特征還在于滿足下列狀態方程：

1.1≤d1/f≤3

此處，d1表示透鏡的軸向厚度，f表示焦距。

21．如權利要求1所述的光學拾取裝置，其特征在于物鏡在光學信息記錄介質一側的數值孔徑不小于0.65。

22．如權利要求20所述的光學拾取裝置，其特征在于物鏡在光學信息記錄介質一側的數值孔徑不小于0.75。

23．如權利要求20所述的光學拾取裝置，其特征在于滿足下列狀態方程：

f/νd≤0.060

此處，νd表示物鏡材料的阿貝數。

24．如權利要求20所述的光學拾取裝置，其特征在于滿足下列狀態方程：

1.40≤n

此處，n表示物鏡材料對使用波長的折射率。

25．如權利要求24所述的光學拾取裝置，其特征在于滿足下列狀態方程：

1.40≤n≤1.85