[發(fā)明專利]光盤驅(qū)動器中用于跟蹤誤差檢測的方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 00120438.6
• 申請日: 2000-07-07
• 公開（公告）號: CN1280361A
• 公開（公告）日: 2001-01-17
• 發(fā)明（設計）人: 馬炳寅;樸仁植;徐仲彥;沈載晟
• 申請（專利權(quán)）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G11B7/08
• 分類號: G11B7/08;G11B21/10;G11B20/10
• 代理公司: 柳沈知識產(chǎn)權(quán)律師事務所
• 代理人: 馬瑩

本發(fā)明涉及用于跟蹤誤差檢測的方法及裝置，更具體地說，涉及用于跟蹤誤差檢測的改進的方法及裝置，在該方法及裝置中，將鎖相環(huán)(PLL)引入傳統(tǒng)的微分相位檢測跟蹤誤差(differential?phase?detection?tracking?error)(DPD?TE)法，以增加跟蹤誤差檢測的精確度。

在傳統(tǒng)的DPD?TE方法中，在光盤的凹坑或標記的邊緣上產(chǎn)生相位差。記錄在光盤上的凹坑或標記的長度處于各種范圍。例如，數(shù)字多用光盤-ROM對于(DVD-ROM)，長度分布范圍為3T到14T，其中T是該種盤的一個通道時鐘的延續(xù)時間。如果有很多長度較短的凹坑或標記，則可以多次執(zhí)行相位差檢測，從而增強得到的跟蹤誤差信號的可靠性。相反，如果有很多長度較長的凹坑或標記，則可以執(zhí)行的相位差檢測次數(shù)減少，從而降低跟蹤誤差信號的可靠性。此外，根據(jù)記錄在盤上的信號的調(diào)制方法，有一個頻譜分量與輸出的AC+和BD+緊密相關，并且該頻譜的低頻分量，影響到關于用來追蹤和確定跟蹤中心的位置的跟蹤誤差信號的噪聲。

根據(jù)傳統(tǒng)的DPD?TE法，假定相位差檢測根據(jù)凹坑或標記一次性完成，因此當凹坑或標記的信號由于缺陷等受到不利影響時，檢測到的信號的增益和特性惡化。此外，當光盤的軌道密度增加時，傳統(tǒng)DPD?TE法中的跟蹤誤差信號的幅度和增益減少。因此，傳統(tǒng)DPD?TE法有一個弱點，那就是難于在高軌道密度結(jié)構(gòu)情況下，精確地控制跟蹤。

為了解決以上問題，本發(fā)明的一個目的是：通過在傳統(tǒng)的微分相位檢測跟蹤誤差(DPD?TE)方法中引入鎖相環(huán)(PLL)，提供一種改進跟蹤誤差檢測精確度的方法。

本發(fā)明的另一個目的是：提供一個使用上述方法的裝置。

因此，為了達到本發(fā)明的一個目的，提供一種用于生成跟蹤誤差信號的跟蹤誤差檢測方法，生成的這種信號即是由兩個以上的沿穿過軌道中心的對角線上的光學檢測器產(chǎn)生的各光學檢測信號之間的差信號。本發(fā)明的方法包括以下步驟：二值化步驟，用于對光學檢測器的輸出進行二值化；鎖相步驟，用于產(chǎn)生與由二值化步驟得到的每一個輸出同步的時鐘信號；相位差檢測步驟，用于檢測鎖相步驟輸出的各個同步時鐘信號之間的相位差；以及，低通濾波步驟，用于對相位差檢測步驟的輸出進行濾波，以便把濾波結(jié)果作為跟蹤誤差信號輸出。

為了達到另一個目的，本發(fā)明提供跟蹤誤差檢測裝置的第一實施例，根據(jù)由兩個以上的沿穿過軌道中心的對角線的光學檢測器產(chǎn)生的各光學檢測信號之間的差信號，產(chǎn)生跟蹤誤差信號。本發(fā)明的裝置的第一優(yōu)選實施例包括：二值化器，用于對光學檢測器的每一個輸出進行二值化；多個PLL，用于產(chǎn)生與二值化器得到的每一個輸出同步的時鐘信號；相位差檢測器，用于檢測從各個PLL輸出的多個同步時鐘信號之間的相位差；以及低通濾波器，用于對相位差的檢測器輸出進行濾波，以便把結(jié)果作為跟蹤誤差信號輸出。在這種情況下，最好再增加一個分頻器，用于把通道的時鐘信號的頻率被除以n(n=2，3，4，……)，即使在輸出信號的相位發(fā)生翻轉(zhuǎn)時，也能將信號輸出到各個PLL。

為了達到本發(fā)明的另一個目的，本發(fā)明還提供第二跟蹤誤差檢測裝置的實施例，其根據(jù)由配置在三單元式光學檢測組件的軌道中心外側(cè)的兩個光學檢測器產(chǎn)生的各光學檢測信號的差信號，生成跟蹤誤差信號。本發(fā)明的裝置的第二優(yōu)選實施例包括：二值化器，用于對光學檢測器的每個輸出進行二值化；相位差檢測器，用于檢測二值化器的多個輸出之間的相位差；低通濾波器，用于對相位差檢測器的輸出進行濾波，以便把結(jié)果作為跟蹤誤差信號輸出。在這種情況下，為了生成與二值化器的每一個輸出同步的時鐘信號，以便把這些同步時鐘信號輸出到相位差檢測器，跟蹤誤差檢測裝置最好還包括一些耦合到二值化器和相位檢測器的PLL。

通過參考附圖詳細描述本發(fā)明的優(yōu)選實施例，本發(fā)明的以上目的和優(yōu)點將變得更加清楚，在附圖中：

圖1是傳統(tǒng)微分相位檢測跟蹤誤差(DPD?TE)法中的跟蹤誤差檢測裝置的方框圖；

圖2是一個波形曲線圖，表示圖1所示裝置的工作情況；

圖3是本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置的第一優(yōu)選實施例的方框圖；

圖4是一個波形曲線圖，它表示圖3所示裝置的工作情況；

圖5是本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置的第二優(yōu)選實施例的方框圖；

圖6是本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置的第三優(yōu)選實施例的方框圖；

圖7是本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置的第四優(yōu)選實施例的方框圖；

圖8是關于圖3和5-7中所示的均衡器增益與頻率的關系曲線圖；