[發(fā)明專利]檢測補償時延的回放信號的方法和電路

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 00120170.0
• 申請日: 2000-05-03
• 公開（公告）號: CN1276598A
• 公開（公告）日: 2000-12-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 大塚達宏;朱盛晨;鄭鐘三;安榮萬;樸仁植;徐偕貞;馬炳寅;崔炳浩
• 申請（專利權(quán)）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G11B7/005
• 分類號: G11B7/005;G11B7/13
• 代理公司: 柳沈知識產(chǎn)權(quán)律師事務(wù)所
• 代理人: 馬瑩

本發(fā)明涉及光記錄介質(zhì)上的信息的回放，特別涉及用于補償在光電探測器的輸出之間的時延以及檢測回放信號的方法和電路。

在檢測來自諸如只讀光盤(CD)或數(shù)字通用盤(DVD)的光記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)的記錄和/或回放裝置中，其中在光記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)是以在基片(substrate)上形成的凹區(qū)(pit)的形式記錄的，檢測通過用光照射凹區(qū)并比較反射光的量值來進行，信號會由于在光電探測器的輸出之間的由數(shù)據(jù)凹區(qū)形狀的不同條件(寬度、長度、深度、角度，等等)所引起的時延以及由數(shù)據(jù)之間的切向干擾所引起的時延而惡化。

在常規(guī)的回放信號檢測中，如圖1所示，拾取單元(P/U)102將從光源(激光二極管)發(fā)出的光束加到盤100上，以檢測記錄在盤100上的信息。然后，通常由光電二極管組成的多分路(multi-division)光電探測器104(也被稱為檢測傳感器)將盤100反射的光信號分成多路并檢測。

第一到第四電流-電壓變換器(I/V)106、108、110和112將從光電探測器104以電流信號形式提供的多通道輸出A、B、C和D分別變換成電壓信號。運算單元114對來自I/V?106、108、110和112的電壓信號求和，以提供射頻(RF)的回放信號RF?SUM。

在通過僅僅對I/V?106、108、110和112的輸出求和來檢測回放數(shù)據(jù)信號的常規(guī)技術(shù)中，在操作過程中由于I/V?106、108、110和112的輸出之間的時延可能會使得回放信號失真或惡化，其中時延是由在盤上形成的數(shù)據(jù)凹區(qū)的不同形狀條件和數(shù)據(jù)之間的干擾引起的。

同時，對于光盤來說，在高清晰度(HD)圖像的記錄和/或回放中希望有大記錄容量和高速回放。此外，作為向高密度和高多速發(fā)展的系統(tǒng)的特性，回放信號的失真和惡化變得更嚴重，并因此在實施系統(tǒng)時導(dǎo)致大量的勞動和更多的花費。在光電探測器的輸出之間的時延導(dǎo)致了回放信號的失真。當回放信號的振幅未被正常地檢測時，系統(tǒng)的性能下降。

為了解決上述問題，本發(fā)明的第一個目的是提供一種用于補償由記錄在光記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)凹區(qū)的不同形狀條件和數(shù)據(jù)之間的干擾引起的時延及檢測回放信號的方法。

本發(fā)明的第二個目的是提供一種用于補償由記錄在光記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)凹區(qū)的不同形狀條件和數(shù)據(jù)之間的干擾引起的時延及檢測回放信號的電路。

為了實現(xiàn)第一個目的和其他目的，本發(fā)明提供了一種采用光電探測器來檢測回放信號的方法，其中光電探測器將從光記錄介質(zhì)反射的光信號分成多路以供檢測。該方法包括下列步驟：檢測在光電探測器的輸出之間的時差，對其間出現(xiàn)了時差的光電探測器的輸出的一部分與光電探測器的輸出的另一部分暫時(temporally)進行匹配，以補償光電探測器的輸出的所述一部分的時延，以及，對補償了時延的光電探測器的輸出的所述一部分與光電探測器的輸出的所述另一部分進行求和，以提供一個回放信號。

為了實現(xiàn)第二個目的和其他目的，本發(fā)明在光記錄和/或回放裝置中提供了一個包括將從光記錄介質(zhì)反射的光信號分成多路以供檢測的光電探測器的回放信號檢測電路。所述電路包括：時延補償器，用于檢測光電探測器的輸出之間的時差，并對其間出現(xiàn)了時差的光電探測器的輸出的一部分與光電探測器的輸出的另一部分暫時進行匹配，以補償光電探測器的輸出的所述一部分的時延；以及，運算單元，用于對補償了時延的光電探測器的輸出的所述一部分與光電探測器的輸出的所述另一部分進行求和，以提供一個回放信號。

通過下面結(jié)合附圖對最佳實施例的詳細描述，本發(fā)明的上述目的和優(yōu)點將變得更加明顯，在附圖中：

圖1是表示常規(guī)的回放信號檢測原理的示意圖；

圖2是依據(jù)本發(fā)明的一個實施例的回放信號檢測電路的電路示意圖；

圖3是表示當出現(xiàn)時延時圖2的光電探測器的輸出波形的示意圖；

圖4是表示依據(jù)本發(fā)明在補償了時延之后光電探測器的輸出波形的示意圖；

圖5是比較補償之前的回放信號與補償之后的回放信號的示意圖，以便于本發(fā)明的理解；以及

圖6是依據(jù)本發(fā)明的另一個實施例的回放信號檢測電路的電路示意圖。

現(xiàn)在詳細參考本發(fā)明的當前最佳實施例進行說明，在附圖中表示了這些實施例，其中，相似的標號代表相似的部件。下面通過參考附圖來描述實施例以說明本發(fā)明。

參看圖2，依據(jù)本發(fā)明的一個實施例的回放信號檢測電路通過比較n-分路光電探測器的輸出的相位來檢測由盤上記錄的數(shù)據(jù)凹區(qū)的不同形狀條件或數(shù)據(jù)間的干擾引起的回放信號的時延，并連續(xù)地或部分地補償該時延。