[發明專利]一種腦梗塞面積及體積的自動測量方法

無效

• 申請號: 00115016.2
• 申請日: 2000-03-21
• 公開（公告）號: CN1270005A
• 公開（公告）日: 2000-10-18
• 發明（設計）人: 葛衛紅;孫鳳艷
• 申請（專利權）人: 上海醫科大學
• 主分類號: A61B5/00
• 分類號: A61B5/00
• 代理公司: 上海醫科大學專利事務所
• 代理人: 吳桂琴

1、一種測量腦梗塞面積及體積的方法，其特征在于采用基于腦圖象灰度特征的分割方法，區分腦的深染組織和淺染的正常組織及梗塞灶，然后，分別用人工編輯法、直接相減法和間接相減法計算得腦梗塞面積及體積。

2、按權利要求1所述的測量腦梗塞面積及體積的方法，其特征在于所述的基于腦圖象灰度特征的分割及計算方法是按下列步驟進行的：(1)首先用無自動增益的CCD及適配器獲取各Bregma平面的腦片圖像。????(2)作腦片圖象的灰度分布直方圖，用谷底法取閾值，將腦片從背景中提取出來，完成第一次分割。(3)人工細分腦片左右兩側，檢測腦片正常側灰度的均值M和標準差SD，以T＝M+δ*SD(其中δ為比例系數，0＜δ＜1)為閾值對整張腦片進行二次分割，以區分深染組織和淺染的正常組織及梗塞灶。(4)分別用人工編輯法、直接相減法、間接相減法將淺染正常組織和梗塞灶區別開來，完成第三次分割。(5)得到腦組織各Bregma平面的梗塞面積后，用梯形公式計算梗塞體積，公式為： T = Σ i = 1 n [ Ai - 1 2 ( Al + An ) ] × h ]]>

3、按權利要求1和2所述的測量腦梗塞面積及體積的方法，其特征在于所述的基于圖象灰度特征的分割方法適用于其他具有對稱性結構的組織形態學分析。

4、按權利要求1和2所述的測量腦梗塞面積及體積的方法，其特征在于所述的基于腦圖象灰度特征的分割方法的參數δ可根據不同組織的形態學特征而定。