[發明專利]使用縱向浮動焦點的計算機化層析X射線攝影掃描儀無效
| 申請號: | 00106010.4 | 申請日: | 2000-03-29 |
| 公開(公告)號: | CN1268337A | 公開(公告)日: | 2000-10-04 |
| 發明(設計)人: | 賴景明 | 申請(專利權)人: | 模擬技術公司 |
| 主分類號: | A61B6/02 | 分類號: | A61B6/02 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 | 代理人: | 杜娟 |
| 地址: | 美國馬*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 使用 縱向 浮動 焦點 計算機化 層析 射線 攝影 掃描儀 | ||
1.一種計算機化層析X射線攝影掃描儀,包括一個具有一焦點的能源和繞縱軸以相繼遞增投影角掃描對象的檢測器陣列,在掃描對象期間所述焦點具有沿縱向相間隔的可變數目的位置。
2.根據權利要求1的計算機化層析X射線攝影掃描儀,其中所述焦點相繼地移動到相應的相繼投影角之間的多個位置上。
3.根據權利要求2的計算機化層析X射線攝影掃描儀,所述焦點基本上根據從由方波、梯形波和正弦波函數組成的組中選出的振蕩定時波函數相繼地移動到所有的位置上。
4.根據權利要求2的計算機化層析X射線攝影掃描儀,其中所述焦點根據正弦波函數相繼地在第一與第二峰值位置之間移動,其中當焦點基本上位于第一與第二峰值位置中的每個上時,檢測器陣列產生檢測信號。
5.根據權利要求1的計算機化層析X射線攝影掃描儀,其中所述能源是X射線源。
6.根據權利要求1的計算機化層析X射線攝影掃描儀,其中所述檢測器陣列包括雙排檢測器陣列。
7.根據權利要求1的計算機化層析X射線攝影掃描儀,還包括一個準直計,用來校直由能源焦點放射的射線。
8.根據權利要求7的計算機化層析X射線攝影掃描儀,其中所述焦點在縱向中第一與第二位置之間相繼移動,其中準直計還包括:
一個隔板和至少一個縫,所述縫用來與所述隔板限定兩個相互排斥的、相應于所述第一位置和第二位置的孔;
其中該板和所述至少一個開口設計用來阻止從所述第一位置上的焦點放射的射線進入所述第二孔,并阻止從所述第二位置上的焦點放射的射線進入所述第一孔。
9.根據權利要求1的計算機化層析X射線攝影掃描儀,其中所述焦點在掃描對象期間也可在焦點旋轉平面內沿橫向改變位置。
10.根據權利要求1的計算機化層析X射線攝影掃描儀,其中所述焦點可在縱向上第一與第二位置之間振蕩,以分別產生中心相應在第一與第二扇形束平面上的第一與第二扇形束。
11.根據權利要求10的計算機化層析X射線攝影掃描儀,其中第一與第二扇形束平面基本上平行并入射在檢測器陣列上。
12.根據權利要求11的計算機化層析X射線攝影掃描儀,其中該檢測器陣列包括第一與第二檢測器子陣列,其中第一扇形束平面入射在第一檢測器子陣列上,并且其中第二扇形束平面入射在第二檢測器子陣列上。
13.根據權利要求10的計算機化層析X射線攝影掃描儀,其中第一與第二扇形束平面基本上發散。
14.根據權利要求13的計算機化層析X射線攝影掃描儀,其中第一與第二扇形束平面相交在焦點與檢測器陣列之間。
15.根據權利要求10的計算機化層析X射線攝影掃描儀,其中第一與第二扇形束平面在基本上相同的縱向位置上會聚在檢測器陣列上。
16.根據權利要求10的計算機化層析X射線攝影掃描儀,其中檢測器陣列包括具有第一與第二檢測器子陣列的雙排檢測器陣列及其中第一扇形束平面入射在第一檢測器子陣列上,并且其中第二扇形束平面入射在第二檢測器子陣列上,并且其中焦點還產生中心在第三及第四扇形束平面上的第三及第四扇形束,其中第三扇形束平面源于第一焦點位置并入射在第二檢測器子陣列上,并且其中第四扇形束平面源于第二焦點位置并入射在第一檢測器子陣列上。
17.根據權利要求1的計算機化層析X射線攝影掃描儀,還包括焦點飄移補償機構,該機構包括:
焦點監測器,用于在所述掃描期間監測所述焦點位置;
一個平均值單元,用于根據監測的位置確定一個時間周期上所述焦點的平均位置;
補償單元,用于將平均位置與預定最佳位置相比較,并根據比較修改焦點位置。
18.一種在計算機化層析X射線攝影掃描儀中進行掃描的方法,該掃描儀包括一個具有一焦點的能源和繞縱軸以相繼遞增投影角掃描對象的檢測器陣列,該方法包括在掃描對象期間在縱向上改變所述焦點的位置。
19.根據權利要求18的方法,還包括在每個相繼的投影角將焦點相繼地移動到縱軸的多個位置上。
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