[發明專利]塊噪聲檢測裝置及塊噪聲降低裝置有效
| 申請號: | 00105482.1 | 申請日: | 2000-03-21 |
| 公開(公告)號: | CN1268842A | 公開(公告)日: | 2000-10-04 |
| 發明(設計)人: | 劍持節 | 申請(專利權)人: | 日本勝利株式會社 |
| 主分類號: | H04N5/14 | 分類號: | H04N5/14 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司 | 代理人: | 謝麗娜,余朦 |
| 地址: | 日本神*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 噪聲 檢測 裝置 降低 | ||
本發明涉及一種用于檢測對圖像信號以象素塊為單位進行編碼及解碼時產生的塊噪聲的塊噪聲檢測裝置及一種降低塊噪聲的塊噪聲降低裝置。
在對圖像信號壓縮編碼時,公知的壓縮編碼方式是將水平及垂直方向相鄰接的多數象素作為一個矩形塊(下面稱象素塊),利用該象素塊內的相鄰接象素的相關高度,以象素塊為單位進行壓縮編碼。而且,通過這種壓縮編碼方式進行壓縮編碼處理的壓縮圖像信號在通過記錄介質或傳輸線路等之后,以象素塊為單位進行與壓縮編碼時互補的擴展處理,復原成原來的圖像信號。
用這種壓縮編碼及解碼方式,當想控制記錄媒體或傳輸線路上的圖像信號信息量小時,應將壓縮效率提高設定,而在想使圖像信號維持高的圖像質量時,則將壓縮效率降低設定。
但是,在將壓縮效率提高設定,控制小的信息量時,有時會以象素塊為單位在與相鄰接的塊之間產生灰度等級差。特別是對于灰度等級變化緩慢的圖像信號部分,該鄰接塊間的灰度等級差容易看得出來。這種鄰接塊間的灰度等級差的噪聲一般稱為塊噪聲。
通過記錄媒體重放的圖像信號,例如由于記錄重放頭粘污、磨擦等原因可能產生塊噪聲,伴隨著這種記錄重放處理的塊噪聲也會在畫面上容易看得出來。
這樣,為使在畫面上不產生看得出來塊噪聲的方法曾經考慮了各種方法,其中一種廣為熟知的例子是對在產生塊噪聲的象素塊相鄰接的塊之間的邊界部分用內插及其他處理進行平滑化的方法。
圖6表示在象素塊的邊界部分排列一串的4個象素x1至x4的信號電平,象素x1及x2為同一象素塊內的象素,象素x3及x4為同一象素塊的象素,圖中表示了各象素塊相鄰接的狀態。
如該圖所示,象素x1和x2的信號電平差d1,象素x3和x4的信號電平差d3,而相鄰接象素x2和象素x3間的信號電平差是與d1、d3相比非常大的d2,表明發生了塊噪聲。這樣產生的塊噪聲以前是通過比較象素塊的邊界部分上的信號電平進行檢測,并對此進行修正的。
這樣,當圖像信號上的象素塊的邊界很明顯時,通過比較該邊界部分象素的信號電平,就可以檢測塊噪聲的發生。而當象素塊的邊界部分不明顯時,首先必須從輸入圖像信號中檢測出象素塊的邊界部分,當該檢測不正確時,當然就不可能對塊噪聲進行適當的修正。
即,在對壓縮圖像信號進行擴展處理的解碼器輸出表示象素塊邊界的脈沖時,根據該脈沖可以檢測塊噪聲,但是當該解碼器不輸出表示邊界的脈沖時就不可能對上述的塊噪聲進行適當的檢測及進行修正。
本發明所涉及的塊噪聲檢測裝置用于檢測以給定矩形塊為單位所壓縮擴展處理的圖像信號中的塊噪聲,其特征在于包括:
微分裝置,對輸入圖像信號進行微分處理,得到微分信號;
孤立微分點檢測裝置,檢測從上述微分裝置輸出的微分信號中的脈沖狀的脈沖,并將其作為孤立微分點檢測信號輸出;
積分裝置,對從上述微分裝置輸出的孤立微分點檢測信號進行積分處理;及
判斷裝置,利用上述積分裝置的輸出和給定的閾值,判斷有無發生塊噪聲。
上述塊噪聲控制裝置,其特征在于:
上述積分裝置以上述給定矩形塊的周期,對上述孤立微分點檢測裝置輸出的孤立微分點檢測信號進行積分處理;
上述判斷裝置通過以畫面單位對上述積分裝置的輸出進行計數,判斷有無發生塊噪聲。
上述塊噪聲檢測裝置,其特征在于:上述積分裝置對上述孤立微分點檢測裝置輸出的孤立微分點檢測信號在水平方向和垂直方向上進行積分處理。
根據本發明所涉及的塊噪聲降低裝置,用于降低以給定的矩形塊為單位進行壓縮擴展處理的圖像信號上的塊噪聲,其特征在于包括:
孤立微分點抽取裝置,對輸入圖像信號進行微分處理得到微分信號,同時抽取輸出上述微分信號中的孤立微分點;
濾波裝置,對上述孤立微分點抽取裝置的輸出進行濾波處理,輸出用于修正發生塊噪聲的矩形塊與相鄰接塊間的邊界上的信號電平差的修正信號;
延遲裝置,對上述輸入圖像信號按給定時間延遲;及
加法裝置,對上述濾波裝置的輸出和上述延遲裝置的輸出進行加法處理。
本發明所涉及的塊噪聲降低裝置,其特征在于還包括:
根據上述孤立微分點抽取裝置的輸出,以幀為單位檢測塊噪聲量的塊噪聲檢測裝置;
根據上述塊噪聲檢測裝置檢測的塊噪聲量,轉換降低塊噪聲處理的通斷。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于日本勝利株式會社,未經日本勝利株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/00105482.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:復合壓電元件和片型復合壓電元件
- 下一篇:合成β沸石的方法





