[發明專利]電流探測儀

有效

• 申請號: 00103772.2
• 申請日: 2000-03-09
• 公開（公告）號: CN1266189A
• 公開（公告）日: 2000-09-13
• 發明（設計）人: J·A·貝克爾;K·V·埃克羅斯;M·G·索爾維森
• 申請（專利權）人: 易通公司
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00;G01R33/02;G01R15/14
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 曾祥凌,章社杲

1.一種用來探測導體(22)中的電流的儀器(40)，該儀器包括一個在一部分導體周圍延伸的磁通聚集器(42)，該磁通聚集器(42)包括由磁性材料形成的第一和第二兩個部段(50和52)，和一個由非磁性材料形成的中間部段(54)，第一和第二部段(50和52)處于導體(22)相反兩側附近，中間部段(54)在磁通聚集器(42)的第一和第二部段(50和52)之間延伸，并且一個磁通探測器(20)裝在磁通聚集器(42)的中間部段(54)上。

2.如權利要求1所述的儀器，其中磁通聚集器(42)的第一部段(50)包括處于導體第一側附近的第一構件(70)，磁通聚集器的第二部分(52)包括處于導體第二側附近的第二構件(72)，該導體第二側與導體第一側對置，第一和第二構件(70和72)的軸線橫向于導體的縱向中心軸線延伸，中間部段(54)與第一構件(70)的端部(74)及第二構件(72)的端部(76)相連接，第一和第二構件(70和72)以及中間部段(54)配合以便至少部分地界定一個通道(88)，導體(22)就從這個通道通過。

3.如權利要求2所述的儀器，其中磁通聚集器的第一部段(50b)包括一個第三構件(102)，它與第一構件(70b)相連并伸向第二構件(72b)，磁通聚集器的第二部段(52b)包括一個第四構件(104)，它與第二構件(72b)相連并伸向第一構件(70b)，中間部段(54b)至少部分地處于第三和第四構件(102和104)之間。

4.如權利要求3所述的儀器，其中磁通探測器(20b)至少部分地處在中間部段(54b)內，且這個磁通敏感探測器的磁通敏感表面橫向于第三和第四構件(102和104)的中心軸線。

5.如權利要求3所述的儀器，其中磁通探測器(20c)至少部分地處在中間部段(54c)內，且其磁通敏感表面與第三和第四構件(102c和104c)的中心軸線平行。

6.如權利要求1所述的儀器，其中磁通聚集器(42)包括一個第二中間部段(56)，它用非磁性材料形成并與上述第一和第二構件(50和52)相連，所述第二中間部段(56)可有效地局部界定讓導體通過的通道(88)。

7.如權利要求6所述的儀器，還包括一第二磁通探測器(20)，它裝在磁通聚集器(42)的第二中間部段(56)上。

8.如權利要求1所述的儀器，其中磁通聚集器(42)還包括一個基底部分(100)，它由磁性材料形成并與第一和第二部段(50b和52b)相連，且可有效地局部界定讓導體通過的通道。

9.如權利要求1所述的儀器，其中磁通聚集器(42b)的第一部段(50b)至少部分地處在導體(24b)的第一開孔(54)中，磁通聚集器的第二部段(152b)至少部分地處在導體的第二開孔(152)中。

10.如權利要求1所述的儀器，其中磁通聚集器(42)的第一和第二部段(50和52)與導體(22)間隔開。

11.如權利要求1所述的儀器，其中磁通聚集器(42a)的第一和第二部段(50a和52a)都設置成與導體相嚙合。

12.如權利要求1所述的儀器，其中磁通探測器(20)的磁通敏感表面(30)至少部分地處在磁通聚集器的第一和第二部段(50和52)的中心、軸線之間，所述磁通探測器的所述磁通敏感表面(30)橫向于包含磁通聚集器第一和第二部段(50和52)的中心軸線的平面延伸并通過該平面延伸。

13.如權利要求1所述的儀器，其中磁通探測器(20c)的磁通敏感表面(30c)至少部分地處在磁通聚集器(42c)的第一和第二部段(50c和52c)之間，磁通探測器(20c)的磁通敏感表面(30c)是沿著包含磁通聚集器第一和第二部段(50c和52c)的中心軸線的平面延伸。