技術領域：

本實用新型涉及一種與百分表、電子探針等配合，既可測量水平產狀巖體結構面又可測量低傾角產狀巖體結構面三維表面形貌的多功能可調節式基座支架。

背景技術：

巖體中由于結構面的切割導致其力學強度大大降低，研究結構面的力學強度是評價巖體穩定性的關鍵。結構面起伏粗糙程度是影響結構面強度的重要因素之一。結構面起伏粗糙程度可以通過一定的方法和儀器進行測量。常規二維測量一般采用機械測量法，其基本原理是通過機械觸針配合滑輪等，觸針尖端接觸到結構面表面，使尖端隨結構面起伏移動，接在觸針另一頭的筆在紙上描出結構面起伏剖面線，該方法不足在于：（1）所取剖面線長度不宜精確控制，（2）對于有傾角結構面不易描繪其正確的起伏方向，（3）只限于繪取二維剖面線，不能直接測量結構面三維粗糙度。

在結構面三維測量方面較多用的是接觸式測量法，該方法主要是通過在固定的剛性坐標支架上安放百分，通過移動百分表并與平放的標準巖石試樣表面接觸，逐點測量來獲取巖石表面的三維坐標參數，其不足主要表現在：（1）測量速度慢、工作效率低，（2）測量精度不夠、數據讀取繁瑣，（3）只能用于室內測量、不能用于對野外任意產狀的結構面進行測量。?

而目前正在發展中的光學掃描儀器則因操作環境要求苛刻，掃描面積有限，設備復雜昂貴、維護難度大，野外使用范圍狹窄等制約因素，導致現階段在工程實踐中尚未普遍推廣。?

實用新型內容：

本實用新型的目的是為了克服以上不足，提供一種結構簡單，操作方便，工作效率高，實用性強，滿足試驗及野外結構面三維粗糙度測量需要的多功能可調節基座支架。

本實用新型的目的是這樣來實現的：?

本實用新型多功能可調節式基座支架中有外固定支座、中轉動尺座、內移動尺座、測量儀表基座，中轉動尺座位于外固定支座中，兩水平轉軸分別裝在外固定尺座兩對應邊上且分別穿過中轉動尺座相應邊使中轉動尺座隨兩水平轉軸轉動并通過固定件固定，中轉動尺座相對兩面上分別有平行于兩水平轉軸軸線的橫向滑槽，兩分別裝在兩橫向滑槽中的橫向滑塊的上端分別穿過內移動尺座對應端帶動內移動尺座沿橫向滑槽滑動并能通過固定件固定，內移動尺座上有與兩橫向滑槽垂直的縱向滑槽，測量儀表基座裝在縱向滑槽上并沿縱向滑槽滑動且能固定，測量儀表基座上有至少一個測量儀表卡座。

上述的外固定支座上位于水平轉軸的位置裝有量角器，中轉動支座上相對橫向滑槽的位置有橫向刻度尺，內移動尺座上相對縱向滑槽的位置有縱向刻度尺。?

上述的測量儀表基座上的測量儀表卡座為三個。?

上述的測量儀表基座中有底座、位于底座底部的伸入縱向滑槽中的縱向滑塊，裝在底座上的兩滑桿，兩滑桿上分別裝有壓縮彈簧，上座通過分別與兩滑桿配合的滑孔裝在兩滑桿上，測量儀表卡座位于上座上，在滑桿位于底座和上座間的上、下位置上分別裝有吸片、電磁鐵，電磁鐵通過導線受電磁鐵控制開關控制，電磁鐵通電后與吸片接觸、從而壓縮滑桿上的壓縮彈簧帶動測量儀表向下運動，斷開電流后、電磁鐵與吸片脫離，測量儀表通過壓縮彈簧反彈回原來高度。?

上述的外固定支座四周分別裝有水平調節支撐螺桿、與水平調節支撐螺桿配合的調節固定螺母，外固定支座上裝有水準儀。?

本實用新型多功能可調節式基座支架單次可提供300mm²的可測量范圍，若待測面積大于測面，可以分塊進行測量。在測面范圍內，可以選好測點的間距逐點測量其相對起伏高差，上述的中轉動支座上的橫向刻度尺和內移動尺座上的縱向刻度尺可以幫助探針百分表或其它電子探針等測量儀表精確定位到測面上任意待測處。?

測量時將內移動尺座和測量儀表基座移動到刻度尺上的零處，在測量儀表基座的上座卡穩測量儀表，啟動電磁鐵吸引基座上座，使測量儀表基座上座帶動測量儀表整體向下壓縮彈簧，并固定在一個高度不變的位置，在此過程中測量儀表尖端接觸到巖石表面便可測量出相對起伏高差。為減小工作量、提高測量效率，本實用新型多功能可調節式基座支架的測量儀表基座提供三個測量儀表卡座，可最多安裝三只測量儀表。一處測點完成以后，關閉電磁鐵開關，彈簧彈起測量儀表基座上座，然后將測量儀表基座上的劃線和內移動尺座上的劃線對齊到另一刻度處，移動距離由所需而定，移動距離越小，所測結果也就越準確，移動距離越大，精確度卻下降。該儀器最小移動距離為1mm，根據實際運用所獲經驗，推薦移動距離5、10、15、20mm。?