技術領域

本實用新型與一種鐳射測距儀有關，特別系關于一種僅需一個單液晶快門即可避免量測光因局部反射意外形成參考光干涉的問題，以降低鐳射測距儀組裝、液晶快門控制的難度，并達到減少制造成本的目的。

背景技術

習知鐳射測距儀系利用一鐳射光源對準目標物，藉由發射的鐳射光束反射回鐳射測距儀，并以一光接收器接收鐳射光束得以測量與目標物的距離長度。由于一般光接收器為雪崩光電二極體(APD)，其操作時的工作溫度容易影響到測量結果，因此于測量前或中，需另以一已知路徑長度的參考光束供光接收器接收，以校正工作溫度誤差。

一種習知的鐳射測距儀如中國TW第I288230號專利，其利用一分光鏡將鐳射光束分為一測量光束及一參考光束，并藉由一快門結構選擇性的擋止于測量光束與參考光束的路徑上，以控制光接收器接收測量光束或參考光束。而此一習知技術需另行設置及切換快門結構動作，除有結構較復雜外，快門切換動作速度亦會影響到鐳射測距儀反應時間。

另一種習知的鐳射測距儀如中國TW公開第201024682號專利申請案，為一種鐳射測距裝置及其控制方法，包括：一發射元件，一第一及第二液晶顯示模組、一接收元件、一聚焦透鏡以及一控制單元，其中在量測時，該發射元件發射量測光，并同時控制該第一液晶顯示模組為不透光狀態及第二液晶顯示模組為透光狀態以使該接收元件接收參考光，再控制第一液晶顯示模組為透光狀態及第二液晶顯示模組為不透光狀態以接收目標物的反射光、當該反射光大于一預定值時，調整第一液晶顯示模組的透光度至該反射光低于該預定值時，由該參考光與該反射光的相位差，計算一距離值。其具有反應快速、動作確實的優點。或如第CN200910214576.7號專利「基于液晶光閥原理相位測量的校準方法、校準裝置和測距裝置」亦為近似的技術。

然而，由于其為避免第一液晶顯示模組的光滑表面造成發射量測光時，一小部分的量測光因光滑表面反射，意外形成參考光干涉量測光，因此必需多設置第二液晶顯示模組來擋止意外形成的反射光，造成需要兩組液晶顯示模組及兩組驅動單元作控制，造成成本較高，且兩組驅動單元須同步動作、困難度增加等問題。

綜合上開先前技術的缺點，大致上包括習知鐳射測距儀采用液晶快門具有反應快速、動作確實的優點，然而需要兩組液晶顯示模組及兩組驅動單元作控制，造成成本較高、驅動控制困難度增加等問題。

發明內容

而鑒于解決上述缺點，本實用新型的目的在于提供一種具單液晶快門的鐳射測距儀的方案，該方案僅需單一單液晶快門即可避免量測光因局部反射意外形成參考光干涉的問題，結構更加簡單，組成元件更少，成本更低。

為實現上述目的，本實用新型公開了一種具單液晶快門的鐳射測距儀，其特征在于包含：

一發射通道，其兩端各設有一發射元件及一發射口；

一接收通道，其于發射元件同一側設有一接收元件，另一端則設有一接收口；

一連通于該發射通道與接收通道間的參考通道；

一設置于該發射通道內的第一腔室，該第一腔室連通于發射口；

一設置于該發射通道內的第二腔室，該第二腔室連通于該參考通道，且第二腔室具有一朝向參考通道的反射面；以及

一設置于第一、第二腔室與發射元件間的液晶快門，其為一液晶顯示模組，且該液晶快門包含一對應該第一腔室的第一區塊及一對應該第二腔室的第二區塊從而該發射元件所發射的鐳射光束一部分通過第一區塊、一部分通過第二區塊，且該液晶快門能切換第一區塊及第二區塊的透光狀態。

其中，該發射元件所發射的鐳射光束一部分通過第一區塊與第一腔室，自該發射口照射至一目標物后反射回該接收通道至該接收元件以形成一測量光束。

其中，該發射元件所發射的鐳射光束一部分通過第二區塊與第二腔室，并經由反射面反射進入參考通道至該接收元件以形成一參考光束。

其中，該發射通道由一隔板將其分隔成第一、第二腔室。

其中，該第一腔室一端接合于該液晶快門處，另一端朝向于發射口。

其中，該第二腔室一端接合于該液晶快門處，另一端以該反射面封閉。

其中，該液晶快門更包含一控制第一區塊及第二區塊透光狀態的驅動元件。

其中，該第一區塊及第二區塊的透光狀態為相反。

其中，該接收通道于接收口處設有一物鏡。

通過上述結構，本實用新型實現了如下技術效果：