技術領域

本實用新型涉及的是一種與晶圓測試的探針適配卡有關，特別是指用以結合垂直式探針的界面板。

背景技術

按，在晶圓制造完成后，必須再經由測試以確保其特性正確。而一般測試晶圓是利用一探針卡，其探針卡主要是由一界面板可為PCB板或其它的轉接板與一探針座所構成，憑借將探針座上的探針與界面板上的焊點接觸使所述的各探針與晶圓接觸后的電氣特性能傳導至所述的界面板上，再由所述的界面板傳輸至測試機臺加以檢測。

惟，由于界面板主要用以作為探針座上的探針與測試機臺間的電氣傳導媒介，因此所述的界面板必須具有能與所述的探針座上的探針加以連結的焊點，但因目前垂直式探針的型態主要以針數與探針間的間距作為區隔，而具有眾多的型態，如12、16、24、48針數...等或各探針間的間距為80、100、200μm...等，因此在制造界面板時，必須因應各種針數與探針間距的不同而作不同型態的界面板，如第一與圖2所示，是一種因應16針數探針座1的界面板2，其界面板2上布設有16個焊點3以供探針座1的探針4所連接，再請參閱如圖3與圖4所示，是一種因應24針數探針座5的界面板6，其界面板6上布設有24個焊點7以供探針座5的探針8所連接。但，如此一來，不僅將導致制造界面板的成本大幅提高，更加致使其制造上較為困難。

發明內容

本實用新型的主要目的在于，提供一種垂直式探針的界面板，是能共享在不同針數或探針間距的探針座所連接，用以克服上述缺陷。

緣以，為達成上述的目的，本實用新型所提供一種垂直式探針界面板，包含有一基板與一垂直探針連結區；所述的基板，具有一第一面與一相背在第一面的第二面；所述的垂直探針連結區，具有若干布設在所述的基板第一面中央位置的焊墊，且所述的焊墊依數量區分為至少兩區塊，以供不同探針針數的探針座所連結，所述的焊墊并依間距不同而區分為至少兩區塊，以不同探針間距的探針座所連結。

本實用新型的優點在于，可以單一型態加以供不同針數或不同探針間距的探針加以連結使用，使其不僅能使其運用范圍更加廣泛，更能減低所需的制造成本。

附圖說明

圖1是一種現有垂直式探針界面板的示意圖；

圖2是圖1所示垂直式探針界面板的使用狀態示意圖；

圖3是一種現有垂直式探針界面板的示意圖；

圖4是圖3所示垂直式探針界面板的使用狀態示意圖；

圖5是本實用新型一較佳實施例的結構示意圖；

圖6是圖5所示較佳實施例的使用狀態示意圖；

圖7是圖5所示較佳實施例的另一使用狀態示意圖；

圖8是本實用新型另一較佳實施例的結構示意圖。

附圖標記說明：現有1、5-探針座；48-探針；26-界面板；37-焊點；本實用新型100-垂直式探針界面板；10-基板；11-第一面；12-第二面；20-垂直探針連結區；21-第一區塊；22-第二區塊；23-第三區塊；50-垂直式探針座；51-探針；60-垂直式探針座；61-探針；200-垂直式探針界面板；70-垂直探針連結區。

具體實施方式

為能更詳細說明本實用新型的特征，茲舉本實用新型一較佳的實施例并配合圖式說明如下；其中：

請參閱圖5，是本實用新型所提供一較佳實施例垂直式探針界面板100，其主要包含有一基板10與一垂直探針連結區20；其中：

所述的基板10，可為一PCB板或為其它材質所制成的轉接板，具有一第一面11與一相背在第一面11的第二面12。

所述的垂直探針連結區20，是由為若干預定數量與預定間距的焊墊所構成，是布設在所述的基板10第一面11之中央位置處；且所述的各焊墊可依數量區分為至少兩區塊，在本實施例中是區分為一第一區塊21、一第二區塊22與一第三區塊23，其中所述的第一區塊21具有以基板10第一面11中央位置向外擴張的12個焊墊，而所述的第二區塊22為含括第一區塊21與自第一區塊21位置向外擴張的24個焊墊其24個焊墊包含第一區塊的12個焊墊，而所述的第三區塊23為含括第二區塊22與自第二區塊22位置向外擴張的48個焊墊其48個焊墊包含第二區塊的24個焊墊；且所述的垂直探針連結區20是與位于基板10第二面12預定位置上的焊墊圖中未示電性連接。

另外，所述的垂直探針連結區20并可依間距分為至少兩區塊，在本實施例中是區分為以100μm為間距的第一區塊與以200μm為間距的第二區塊。

是以，上述即為本實用新型所提供一較佳實施例垂直式探針界面板100的各部構造介紹，接著再將其使用方式與特點介紹如下：