【技術領域】

本發明涉及電路設計領域，特別涉及一種改善抗靜電測試性能的電池保護電路。

【背景技術】

電池保護電路通常被安裝在電池內，例如，在手機電池內部，有一塊很小的印刷電路板（Printed?Circuit?Board，簡稱PCB），電池保護電路就安裝在此印刷電路板上。電池保護電路用于對電池進行充放電控制，其基本功能包括過電壓充電保護、過電壓放電保護、放電過流保護、充電過流保護和短路保護。

請參考圖1所示，其為現有技術中電池保護電路的電路示意圖。所述電池保護電路包括電池保護芯片（或稱電池保護單元）110、開關組合電路120、電阻R1、電阻R2和電容C1。

所述電池保護電路的第一電源端VP與電芯Bat的正極直接相連，所述電池保護電路的第二電源端VM通過開關組合電路120與電芯Bat的負極G相連，電阻R1和電容C1串聯于電芯Bat的正極和負極G之間。當負載電阻R0連接于第一電源端VP和第二電源端VM之間時，所述電芯Bat處于放電狀態；當電池充電器130正接于第一電源端VP和第二電源端VM之間時，所述電芯Bat處于充電狀態。

所述開關組合電路120包括第一NMOS（N-Channel?Metal?Oxide?Semiconductor）晶體管MN1和第二NMOS晶體管MN2。所述第一NMOS晶體管MN1的源極與所述電芯Bat的負極G相連，其漏極與所述第二NMOS晶體管MN2的漏極相連，所述第二NMOS晶體管MN2的源極與所述第二電源端VM相連，且在NMOS晶體管MN1中寄生有二極管（未示出），在NMOS晶體管MN2中寄生有二極管（未示出）。

所述電池保護芯片110包括三個連接端(或稱為檢測端)和兩個控制端。三個連接端分別為與電芯BAT正極相連的第一檢測端（或稱電芯正極連接端）VDD、與電芯BAT負極G相連的第二檢測端（或稱接地端）VSS和與第二電源端VM相連的第三檢測端VMI，兩個控制端分別為充電控制端CO和放電控制端DO。其中，連接端VDD與電阻R1和電容C1之間的連接節點相連，連接端VSS與電芯Bat的負極G相連，連接端VMI通過電阻R2與第二電源端VM相連，充電控制端CO與NMOS晶體管MN2的柵極相連，放電控制端DO與NMOS晶體管MN1的柵極相連。

參考圖1所示，所述電池保護芯片110包括過充電檢測電路112、過放電檢測電路114、放電過流檢測電路116、充電過流檢測電路（未標示）、短路檢測電路117和控制電路118。所述控制電路118根據所述過充電檢測電路112、過放電檢測電路114、放電過流檢測電路116、充電過流檢測電路和短路檢測電路117輸出的檢測信號生成充電控制信號并通過充電控制端CO輸出，生成放電控制信號并通過放電控制端DO輸出。具體的，當電池保護芯片110檢測到電芯Bat的電壓超過過壓充電閾值（例如，4.3V），且持續時間大于過充保護延遲時間（例如100mS），則通過控制電路118輸出的充電控制信號CO為低電平，使NMOS晶體管MN2關斷，以切斷電芯Bat的充電回路，從而實現禁止充電；當電池保護芯片110檢測到電芯Bat的電壓低于過壓放電閾值（例如2.3V），且持續時間大于過放保護延遲時間（例如40mS），則通過控制電路118輸出的放電控制信號DO為低電平，使NMOS晶體管MN2關斷，以切斷電芯Bat的放電回路，從而實現禁止放電；當電池保護芯片110檢測到第二電源端VM的電壓高于放電過流閾值（例如150mV），且持續時間大于過流放電保護延遲時間（例如12mS），則通過控制電路118輸出的放電控制信號DO為低電平，使NMOS晶體管MN2關斷，從而實現禁止放電；當電池保護芯片110檢測到第二電源端VM的電壓高于短路保護閾值（例如1V），且持續時間大于短路保護延遲時間（例如2～80uS），則通過控制電路118輸出的信號DO1為低電平，使NMOS晶體管MN2關斷，從而實現禁止放電。

但是，在實際應用中，例如將上述保護電路安裝至電池，再將電池安裝至手機中，在對手機進行靜電測試時，經常會出現在靜電沖擊后，手機出現關機的現象。雖然可以通過改進手機內部的印刷電路板設計而改善電池保護電路的抗靜電測試性能，但這樣對手機印刷電路板的設計要求較高，有時為了滿足手機緊湊性設計，無法滿足靜電測試不關機的要求。

因此，有必要提供一種改進的技術方案來克服上述問題。

【發明內容】

本發明的目的在于提供一種電池保護電路，其可以改善電池保護電路的抗靜電檢測性能，進而實現在對手機進行靜電測試時不出現關機現象。