技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光通訊產(chǎn)品加工技術(shù)領(lǐng)域，尤其是指一種光電、電光轉(zhuǎn)換器的在生產(chǎn)過(guò)程中預(yù)定位的方法。

背景技術(shù)

光纖通訊由于其通訊速度快，信息量大，而越來(lái)越多的應(yīng)用到各種數(shù)據(jù)的傳送之中。而在光電、電光的轉(zhuǎn)換過(guò)程中，如附圖1、2所示，需將發(fā)射器1發(fā)出的光L經(jīng)透鏡2集中于陶瓷內(nèi)孔3，并焊接固定，被稱之為發(fā)射耦合；或者將探測(cè)器對(duì)準(zhǔn)入射的激光并粘接固定，被稱之為接受耦合；然而在上述耦合固定過(guò)程中，部分產(chǎn)品存在如下問(wèn)題：1. 留有的找光空間非常小；2. 激光器或者探測(cè)器裝入夾頭時(shí)位置一致性不好；3, 物料的加工導(dǎo)致尺寸和位置產(chǎn)生偏差。由于上述因素合并產(chǎn)生并導(dǎo)致上、下兩個(gè)零件存在一定的偏差，而在找光對(duì)準(zhǔn)過(guò)程中，會(huì)發(fā)生上、下兩個(gè)零件互相碰撞而導(dǎo)致的耦合不良的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足之處，而提供一種光器件耦合預(yù)定位的方法。

本發(fā)明是通過(guò)如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的：一種光器件耦合預(yù)定位的方法，在需要對(duì)光的上、下兩個(gè)零件之間，通過(guò)電路的導(dǎo)通與斷開(kāi)來(lái)測(cè)量?jī)蓚€(gè)零件的相對(duì)位置。

在需要對(duì)光的上、下兩個(gè)零件之間設(shè)置一電壓差，利用兩者之間相對(duì)移動(dòng)過(guò)程中產(chǎn)生的接觸，形成電流與電壓的變化，前后左右四個(gè)方向移動(dòng)所產(chǎn)生的接觸，則會(huì)形成四次電流與電壓的變化，通過(guò)這四次接觸的相對(duì)位置，則可計(jì)算出耦合的中心坐標(biāo)。

本發(fā)明由于采用通過(guò)電路的導(dǎo)通與斷開(kāi)來(lái)實(shí)現(xiàn)找準(zhǔn)對(duì)光，避免了由于相對(duì)位置偏差導(dǎo)致的碰撞問(wèn)題。

附圖說(shuō)明：

附圖1為習(xí)用技術(shù)工作原理圖；

附圖2為習(xí)用技術(shù)找準(zhǔn)對(duì)光示意圖；

附圖3為本發(fā)明工作原理圖；

附圖4為本發(fā)明找準(zhǔn)對(duì)光示意圖之一；

附圖5為本發(fā)明找準(zhǔn)對(duì)光示意圖之二；

附圖6為本發(fā)明找準(zhǔn)對(duì)光示意圖之三。

具體實(shí)施方式：

一種光器件耦合預(yù)定位的方法，在需要對(duì)光的上、下兩個(gè)零件之間，通過(guò)電路的導(dǎo)通與斷開(kāi)來(lái)測(cè)量?jī)蓚€(gè)零件的相對(duì)位置。

在需要對(duì)光的上、下兩個(gè)零件之間設(shè)置一電壓差，利用兩者之間相對(duì)移動(dòng)過(guò)程中產(chǎn)生的接觸，形成電流與電壓的變化，前后左右四個(gè)方向移動(dòng)所產(chǎn)生的接觸，則會(huì)形成四次電流與電壓的變化，通過(guò)這四次接觸的相對(duì)位置，則可計(jì)算出耦合的中心坐標(biāo)。

見(jiàn)附圖3～6，一種光器件耦合預(yù)定位的方法，首先在上、下兩個(gè)零件1、3之間加入微弱電壓，微弱電壓不會(huì)對(duì)兩個(gè)器件本身產(chǎn)生不良影響；在上、下兩個(gè)零件沒(méi)有接觸的時(shí)候，電路是斷開(kāi)的，導(dǎo)線4內(nèi)沒(méi)有電流通過(guò)；在上、下兩個(gè)零件1、3接觸的時(shí)候，導(dǎo)線4內(nèi)有電流通過(guò)；利用這種電路的導(dǎo)通性質(zhì)引起電流與電壓的變化，可以探測(cè)到上、下兩個(gè)零件1、3是否接觸。

前后左右移動(dòng)，兩個(gè)零件1、3之中的一個(gè)，在兩個(gè)零件1、3接觸的一瞬間，記錄下電機(jī)的位置（命令位置和實(shí)際位置），我們能夠得到四次接觸時(shí)電機(jī)的位置，通過(guò)這四次位置，就可以得到兩個(gè)零件1、3的相對(duì)偏移量。

知道兩個(gè)零件1、3的相對(duì)偏移量后，軟件可以根據(jù)偏移量重新計(jì)算耦合的中心點(diǎn)坐標(biāo)，避免了由于相對(duì)位置偏差導(dǎo)致的碰撞問(wèn)題。