[其他]氣壓掃描半導體激光器線寬測試儀無效
| 申請號： | 87208603 | 申請日： | 1987-05-25 |
| 公開（公告）號： | CN87208603U | 公開（公告）日： | 1988-05-11 |
| 發明（設計）人： | 汪開源;高中林;章建洛;孟曉晶 | 申請（專利權）人： | 南京工學院 |
| 主分類號： | G01B11/02 | 分類號： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 南京工學院專利事務所 | 代理人： | 樓高潮,沈廉 |
| 地址： | 江蘇省南京*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | 氣壓掃描半導體激光器線寬測試儀是一種激光器參數測試儀器，它由望遠鏡系統、密封氣壓室、F-P標準具和氣壓控制系統及壓力傳感器等組成；可以用x-y記錄儀直接畫出激光的線形和模式，也可以同時用Z-80單板機直接讀出激光器線寬的數值；具有結構簡單、操作方便、性能穩定和成本低等優點，對環境條件無特殊要求，測量精度較高；不僅可以測量半導體激光器線寬，還可以制成干涉儀，用于測量氣體折射率和微位移。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 氣壓 掃描 半導體激光器 測試儀 | ||
【主權項】：
1、氣壓掃描半導體激光器線寬測試儀由望遠鏡系統、F-P標準具和氣壓室等組成，其特征在于F-P標準具放在一個密封氣壓空中，控制氣壓室(3)中氣體變化的氣壓控制系統(9)與氣壓室相通，氣壓室還與反映氣壓信號的壓力傳感器(5)相連。
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