[其他]發射光譜的表觀濃度法無效
| 申請號： | 87103303 | 申請日： | 1987-04-30 |
| 公開（公告）號： | CN1004580B | 公開（公告）日： | 1989-06-21 |
| 發明（設計）人： | 姚泰煜 | 申請（專利權）人： | 四川省自貢市鑄鋼廠 |
| 主分類號： | 分類號： | ||
| 代理公司： | 四川自貢市專利事務所 | 代理人： | 黃道和;江家清 |
| 地址： | 四川省自*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本發明屬于一種原子發射光譜定量測定金屬樣品中多元素的方法，特別適合于鋼鐵樣品的分析。本方法特征是以表觀濃度作為光譜分析中的中間目標量，建立了表觀濃度和真實濃度之間的數學計算方法。日常分析中用普通標樣建立表觀濃度工作曲線，分析未知樣品先獲得目標元素的表觀濃度，再求得真實濃度。本方法能綜合校正共存元素干擾和基體濃度變化的影響，提高分析精密度和準確度，簡化分析多品種金屬樣品的手續，提高分析速度，可分析碳鋼、中低合金鋼和不銹鋼樣品中的２０種元素。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 發射光譜 表觀 濃度 | ||
【主權項】：
1、一種發射光譜的表觀濃度法，該方法吸取了內標法和共存元素干擾校正技術，利用常規光源直接分析金屬樣品多元素，其特征是采用一種包括目標元素的真實濃度、共存元素干擾校正量和基體元素濃度校正量在內的濃度函數，即“表觀濃度”作為光譜分析的中間目標量，這種表觀濃度定義為Cj′=Cj″+ΔCj″?????????(10)可運用C″j=100Cj/(100-Σi=1nCi]]>)(12)C′j=Σi=1nfjjC′′i(fvjj=1).........(18)]]>求出已知化學組成的標準樣品中各元素的表觀濃度，用標準樣品中包括被測元素和共存元素在內的全部目標元素的表觀濃度和相應的分析線對的相對強度擬合“表觀濃度工作曲線”，用這樣的工作曲線分析未知樣品得出各目標元素的表觀濃度后，解線性方程組求得各自標元素的相對濃度，再用Cj=100cj″/(100+Σi=1nCi]]>″)（13）求得各目標元素的真實濃度。
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