[其他]改進型的雙光束X射線測厚儀無效
| 申請號： | 86209739 | 申請日： | 1986-12-06 |
| 公開（公告）號： | CN86209739U | 公開（公告）日： | 1987-09-16 |
| 發明（設計）人： | 余式正 | 申請（專利權）人： | 冶金工業部自動化研究所 |
| 主分類號： | G01B15/02 | 分類號： | G01B15/02 |
| 代理公司： | 冶金專利事務所 | 代理人： | 常貴貞 |
| 地址： | 北京市豐*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一種改進型雙光束X射線測厚儀，采用標準片代替以往的基準楔進行厚度設定，并能實現被測板材質補償。該測厚儀中的前置放大器采用微電流放大器和對數放大器相結合的電路，實現偏差指示的線性化。同時在設定光束中設置適當的平衡片，使兩束光束完全平衡。從而使之充分發揮了雙光束測量方式穩定性高、噪音低的特點，用簡單的電路和小的X射線強度，實現高精度的厚度測量。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 改進型 光束 射線 測厚儀 | ||
【主權項】：
1、一種改進型雙光束X射線測厚儀，其特征在于：a)、前置放大器采用微電流放大器和對數放大器相結合的電路實現偏差指示的線性化；b)、用標準片代替基準楔進行厚度設定，同時能通過材質補償電位器實現被測板材質補償；c)、在設定光束中設置適當厚度的平衡片，使兩束光束完全平衡。
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