[其他]普通測微尺無效
| 申請號： | 86201486 | 申請日： | 1986-03-01 |
| 公開（公告）號： | CN86201486U | 公開（公告）日： | 1987-04-08 |
| 發明（設計）人： | 張世俊 | 申請（專利權）人： | 張世俊 |
| 主分類號： | G01B3/18 | 分類號： | G01B3/18;G01B3/00 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 遼寧省鞍山市*** | 國省代碼： | 遼寧;21 |
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| 摘要： | 普通測微尺是一種機械計量檢測精密測量的主要工具。本實用新型由普通百分尺經過結構改造，將尺轉動、刻度、外形規格改變成普通能測微的精密尺。刻度每格讀數為0.0025毫米，比百分尺提高4倍，實測物讀值精確度提高八倍。能完成計微目的達到國際公差要求。特點可測圓、方、長度及各種幾何圖形。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 普通 測微尺 | ||
【主權項】：
1、普通測微尺是一種機械計量檢測精密測量的主要工具。測砧②與毫米套筒③壓合在半圓形尺架①上。微分筒⑥在毫米套筒③上可往復轉動移進，每格讀數為0.0025毫米。其特征在于：a.測桿④螺距t=0.25毫米特殊螺距。b.微分筒刻度刻100格。
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