[其他]校正反射輻射功率密度的光學高溫計無效
| 申請號： | 86108489 | 申請日： | 1986-11-14 |
| 公開（公告）號： | CN86108489A | 公開（公告）日： | 1987-06-17 |
| 發明（設計）人： | 埃內斯托·蘇亞雷斯-岡薩雷斯 | 申請（專利權）人： | 聯合工藝公司 |
| 主分類號： | G01J5/00 | 分類號： | G01J5/00;G01J5/60;G01K11/00;G01K13/08 |
| 代理公司： | 中國專利代理有限公司 | 代理人： | 吳秉芬 |
| 地址： | 美國康*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | 校正反射輻射功率密度的光學高溫計包括一個用來接收從噴氣發動機渦輪葉片發出的目標光束的光導。該目標光束被導入檢測器組件并被分為二束光，一束光的光譜寬度選得比目標光束光譜寬度小。一個信號處理器接收來自檢測器組件的表示兩束光能量的信號，由此直接計算反射校正能量信號，并輸出正確的目標溫度信號。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 校正 反射 輻射 功率密度 光學 高溫 | ||
【主權項】：
1、一種測量遙遠目標溫度的校正反射輻射功率密度的光學高溫計包括：光導裝置，用來接收具有某一光譜寬度的并包含從目標發射的組分以及從具有一個等效黑體溫度的火球反射的組分的目標光束；檢測器組件裝置，接收所述目標光束并將其分為第一和第二光束并輸出等價電信號，所述第二光束具有一個選定為所述目標光束光譜寬度一部分的光譜寬度；信號處理裝置，接收所述的第一和第二信號并接收能量比信號，用來從所述第一信號與所述能量比信號同所述第二信號乘積之差產生反射校正能量信號。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于聯合工藝公司，未經聯合工藝公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/patent/86108489/，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
